TS372IDT - ST Microelectronics

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

TS372IDT
Производитель

ST Microelectronics
Чип воркер Часть №

CW9660250
Категория

Компаратор
Упаковка

SOIC-8
Описание

STMICROELECTRONICS TS372IDT Analogue Comparator, Dual, CMOS, 2, 200ns, 3V to 16V, SOIC, 8Pins
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

TS372IDT Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

TS372IDT Компаратор характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	TS372IDT
Производитель	ST Microelectronics
Чип воркер Часть №	CW9660250
Категория	Компаратор
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	8 Pin
Корпус/Пакет	SOIC-8
Напряжение Питания (DC)	3.00V (min)
Выходной Ток	20 mA
Ток Питания	0.75 mA
Количество Цепей	2 Circuit
Количество Каналов	2 Channel
Количество Стежков	8 Position
Рассеяние Мощности	710 mW
Ток Покоя	150 µA
Входное Напряжение Смещения	10 mV
Входной Ток Смещения	0.001 nA
Рабочая температура (Макс)	125 ℃
Рабочая температура (мин)	-40 ℃
Рассеиваемая Мощность (Макс)	710 mW
Напряжение питания	3V ~ 16V
Напряжение питания (Макс)	16 V
Напряжение питания (мин)	3 V
	Развернуть все
Длина	5 mm
Ширина	4 mm
Высота	1.25 mm
Рабочая Температура	-40℃ ~ 125℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Tape & Reel (TR)
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Комплаенс	No SVHC
REACH SVHC Compliance Edition	2015/12/17
ECCN кодекс	EAR99

TS372IDT Описание продукта

The TS372IDT is a low power dual CMOS Precision Voltage Comparator designed to operate with single or dual supplies. This differential comparator uses the silicon linMOS process giving them an excellent consumption-speed ratio. This device is ideally suited for low consumption applications.
Very low supply current - 0.1mA per comparator independent of supply voltage
Low input offset voltage
Input common-mode voltage range includes ground
150mV Low output saturation voltage
Output compatible with TTL, MOS and CMOS
10¹²R High input impedance
Fast response time - 200ns for TTL level input step

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности