TLE2142AIDR - TI

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

TLE2142AIDR
Производитель

TI
Чип воркер Часть №

CW48827214
Категория

Буферный усилитель
Упаковка

SOIC-8
Описание

Op Amp Dual GP ±22V/44V 8Pin SOIC T/R
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

TLE2142AIDR Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

TLE2142AIDR Буферный усилитель характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	TLE2142AIDR
Производитель	TI
Чип воркер Часть №	CW48827214
Категория	Буферный усилитель
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	8 Pin
Корпус/Пакет	SOIC-8
Выходной Ток	≤80 mA
Ток Питания	6.9 mA
Количество Цепей	2 Circuit
Количество Каналов	2 Channel
Коэффициент Ослабления Синфазного Сигнала	85 dB
Входной Дрейф Смещения	1.70 µV/K
Ширина Ленты	5.80 MHz
Скорость Нарастания	45.0 V/μs
Произведение Коэффициента Усиления на Ширину Полосы Пропускания	5.8 MHz
Входное Напряжение Смещения	1.5 mV
Входной Ток Смещения	700 nA
Рабочая температура (Макс)	105 ℃
Рабочая температура (мин)	-40 ℃
Gain Bandwidth	5.9 MHz
Минимальный диапазон CMRR	85 dB
	Развернуть все
Рабочая Температура	-40℃ ~ 105℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Tape & Reel (TR)
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free

TLE2142AIDR Описание продукта

description
The TLE214x and TLE214xA devices are high-performance, internally compensated operational amplifiers
built using Texas Instruments complementary bipolar Excalibur process. The TLE214xA is a tighter offset
voltage grade of the TLE214x. Both are pin-compatible upgrades to standard industry products.
Low Noise
10 Hz . . . 15 nV/√Hz
1 kHz . . . 10.5 nV/√Hz
10000-pF Load Capability
20-mA Min Short-Circuit Output Current
27-V/µs Min Slew Rate
High Gain-Bandwidth Product. . . 5.9 MHz
Low VIO . . . 500 µV Max at 25°C
Single or Split Supply...4 V to 44 V
Fast Settling Time
340 ns to 0.1%
400 ns to 0.01%
Saturation Recovery. . . 150 ns
Large Output Swing
VCC−+0.1 V to VCC+− 1 V

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности