SN74AHCT125PW - TI

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

SN74AHCT125PW
Производитель

TI
Чип воркер Часть №

CW7961007
Категория

Логический чип
Упаковка

TSSOP-14
Описание

TEXAS INSTRUMENTS SN74AHCT125PW Buffer Gate, 74AHCT125, 2Input, 8mA, 4.5V to 5.5V, TSSOP-14
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

SN74AHCT125PW Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

SN74AHCT125PW Логический чип характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	SN74AHCT125PW
Производитель	TI
Чип воркер Часть №	CW7961007
Категория	Логический чип
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	14 Pin
Корпус/Пакет	TSSOP-14
Напряжение Питания (DC)	4.50V ~ 5.50V
Количество Выходных Интерфейсов	4 Output
Выходной Ток	8 mA
Количество Каналов	4 Channel
Количество Стежков	14 Position
Количество Битов	4 Bit
Время Задержки Распространения	8.50 ns
Узлы Напряжения	5.00 V
Привод Выходного Тока	-1.00 mA
Количество входов	2 Input
Рабочая температура (Макс)	85 ℃
Рабочая температура (мин)	-40 ℃
Напряжение питания	4.5V ~ 5.5V
Напряжение питания (Макс)	5.5 V
Напряжение питания (мин)	4.5 V
	Развернуть все
Длина	5 mm
Ширина	4.4 mm
Высота	1.15 mm
Рабочая Температура	-40℃ ~ 85℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Each
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Комплаенс	No SVHC
REACH SVHC Compliance Edition	2015/06/15
ECCN кодекс	EAR99

SN74AHCT125PW Описание продукта

The SN74AHCT125PW is a quadruple Bus Buffer Gate with 3-state outputs. Each output is disabled when the associated output-enable (OE)\ input is high. When OE\ is low, the respective gate passes the data from the A input to its Y output. To ensure the high-impedance state during power up or power down, OE\ should be tied to VCC through a pull-up resistor, the minimum value of the resistor is determined by the current-sinking capability of the driver.
Inputs are TTL-voltage compatible
Latch-up performance exceeds 250mA per JESD 17
ESD protection exceeds JESD 22

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности