OPA4131PA - TI

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

OPA4131PA
Производитель

TI
Чип воркер Часть №

CW4213625
Категория

Операционный усилитель
Упаковка

PDIP-14
Описание

TEXAS INSTRUMENTS OPA4131PA Operational Amplifier, Quad, 4 Amplifier, 4MHz, 10V/µs, ± 4.5V to ± 18V, DIP, 14Pins
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

OPA4131PA Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

OPA4131PA Операционный усилитель характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	OPA4131PA
Производитель	TI
Чип воркер Часть №	CW4213625
Категория	Операционный усилитель
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Through Hole
Количество Выводов	14 Pin
Корпус/Пакет	PDIP-14
Рабочее Напряжение	4.5V ~ 18V
Ток Питания	1.5 mA
Количество Цепей	4 Circuit
Количество Каналов	4 Channel
Коэффициент Ослабления Синфазного Сигнала	70 dB
Входной Дрейф Смещения	2.00 µV/K
Ширина Ленты	4 MHz
Скорость Нарастания	10.0 V/μs
Произведение Коэффициента Усиления на Ширину Полосы Пропускания	4 MHz
Защита от Перегрева	No
Входное Напряжение Смещения	200 µV
Входной Ток Смещения	5 pA
Рабочая температура (Макс)	85 ℃
Рабочая температура (мин)	-40 ℃
Gain Bandwidth	4 MHz
Минимальный диапазон CMRR	70 dB
	Развернуть все
Длина	19.3 mm
Ширина	6.35 mm
Высота	4.57 mm
Рабочая Температура	-40℃ ~ 85℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Tube
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Compliance Edition	2015/06/15

OPA4131PA Описание продукта

DESCRIPTION
The OPA131 series of FET-input op amps provides high performance at low cost. Single, dual, and quad versions in industry-standard pinouts allow cost-effective design options.
The OPA131 series offers excellent general-purpose perfor mance, including low offset voltage, drift, and good dynamic characteristics.
FEATURES
●FET INPUT: IB = 50pA max
●LOW OFFSET VOLTAGE: 750µV max
●WIDE SUPPLY RANGE: ±4.5V to ±18V
●SLEW RATE: 10V/µs
●WIDE BANDWIDTH: 4MHz
●EXCELLENT CAPACITIVE LOAD DRIVE
●SINGLE, DUAL, QUAD VERSIONS

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности