MC74HC32ADR2G - ON Semiconductor

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

MC74HC32ADR2G
Производитель

ON Semiconductor
Чип воркер Часть №

CW8740263
Категория

Логический чип
Упаковка

SOIC-14
Описание

OR Gate 4Element 2IN CMOS 14Pin SOIC T/R
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

MC74HC32ADR2G Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

MC74HC32ADR2G Логический чип характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	MC74HC32ADR2G
Производитель	ON Semiconductor
Чип воркер Часть №	CW8740263
Категория	Логический чип
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	14 Pin
Корпус/Пакет	SOIC-14
Напряжение Питания (DC)	2.00V (min)
Ёмкость	10 pF
Безгалогеновый Статус	Halogen Free
Количество Выходных Интерфейсов	1 Output
Выходной Ток	5.2 mA
Количество Цепей	4 Circuit
Количество Стежков	14 Position
Рассеяние Мощности	0.5 W
Ток Покоя	1 µA
Количество Вентилей	4 Gate
Количество входов	2 Input
Рабочая температура (Макс)	125 ℃
Рабочая температура (мин)	-55 ℃
Напряжение питания	2V ~ 6V
Напряжение питания (Макс)	6 V
Напряжение питания (мин)	2 V
	Развернуть все
Длина	8.75 mm
Ширина	4 mm
Высота	1.5 mm
Рабочая Температура	-55℃ ~ 125℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Tape & Reel (TR)
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Комплаенс	No SVHC
REACH SVHC Compliance Edition	2015/12/17
ECCN кодекс	EAR99

MC74HC32ADR2G Описание продукта

The MC74HC32A is identical in pinout to the LS32. The device inputs are compatible with Standard CMOS outputs; with pullup resistors, they are compatible with LSTTL outputs.
Features
• Output Drive Capability: 10 LSTTL Loads
• Outputs Directly Interface to CMOS, NMOS and TTL
• Operating Voltage Range: 2.0 to 6.0 V
• Low Input Current: 1μA
• High Noise Immunity Characteristic of CMOS Devices
• In Compliance With the JEDEC Standard No. 7A Requirements
• Chip Complexity: 48 FETs or 12 Equivalent Gates
• Pb−Free Packages are Available

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности