SN74AHC244MPWREP - TI

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

SN74AHC244MPWREP
Производитель

TI
Чип воркер Часть №

CW40580123
Категория

Логический чип
Упаковка

TSSOP-20
Описание

Buffer/Line Driver 8CH Non-Inverting 3-ST CMOS 20Pin TSSOP T/R
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

SN74AHC244MPWREP Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

SN74AHC244MPWREP Логический чип характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	SN74AHC244MPWREP
Производитель	TI
Чип воркер Часть №	CW40580123
Категория	Логический чип
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	20 Pin
Корпус/Пакет	TSSOP-20
Напряжение Питания (DC)	2.00V ~ 5.50V
Количество Выходных Интерфейсов	8 Output
Количество Каналов	8 Channel
Количество Битов	8 Bit
Время Задержки Распространения	8.50 ns
Узлы Напряжения	5.00 V, 3.30 V
Количество Вентилей	8 Gate
Привод Выходного Тока	-1.00 mA
Количество входов	8 Input
Рабочая температура (Макс)	125 ℃
Рабочая температура (мин)	55 ℃
Напряжение питания	2V ~ 5.5V
Напряжение питания (Макс)	5.5 V
Напряжение питания (мин)	2 V
	Развернуть все
Длина	6.6 mm
Ширина	4.5 mm
Высота	1.05 mm
Рабочая Температура	-55℃ ~ 125℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Tape & Reel (TR)
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free

SN74AHC244MPWREP Описание продукта

This octal buffer/driver is designed specifically to improve the performance and density of 3-state memory-address drivers, clock drivers, and bus-oriented receivers and transmitters.
The SN74AHC244 is organized as two 4-bit buffers/line drivers with separate output-enable (OE)\ inputs. When OE\ is low, the device passes data from the A inputs to the Y outputs. When OE\ is high, the outputs are in the high-impedance state.
To ensure the high-impedance state during power up or power down, OE\ should be tied to VCC through a pullup resistor; the minimum value of the resistor is determined by the current-sinking capability of the driver.

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности