MC33153DG - ON Semiconductor

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

MC33153DG
Производитель

ON Semiconductor
Чип воркер Часть №

CW2429063
Категория

Драйвер FET
Упаковка

SOIC-8
Описание

MC33153DG, MOSFET Power Driver, 1A, 2A Half Bridge, 20V, Inverting, 8Pin SOIC
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

MC33153DG Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

MC33153DG Драйвер FET характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	MC33153DG
Производитель	ON Semiconductor
Чип воркер Часть №	CW2429063
Категория	Драйвер FET
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	8 Pin
Корпус/Пакет	SOIC-8
Напряжение Питания (DC)	0.00V(min), 15.0V(max)
Время Нарастания/Спада	17 ns
Безгалогеновый Статус	Halogen Free
Количество Выходных Интерфейсов	1 Output
Выходное Напряжение	13.9 V
Выходной Ток	1 A
Количество Стежков	8 Position
Рассеяние Мощности	560 mW
Время Нарастания	17 ns
Время падения	17 ns
Рабочая температура (Макс)	105 ℃
Рабочая температура (мин)	-40 ℃
Напряжение питания	11V ~ 20V
Напряжение питания (Макс)	15 V
Напряжение питания (мин)	0 V
	Развернуть все
Длина	5 mm
Ширина	4 mm
Высота	1.5 mm
Рабочая Температура	-40℃ ~ 105℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Tube
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Комплаенс	No SVHC
REACH SVHC Compliance Edition	2015/12/17
ECCN кодекс	EAR99

MC33153DG Описание продукта

The MC33153DG is a Single IGBT Gate Driver for high power applications. Although it is designed for driving discrete and module IGBTs, this device offers a cost effective solution for driving power MOSFETs and bipolar transistors. Device protection features include the choice of de-saturation or over current sensing and under voltage detection.
1A Source/2A sink high current output stage
Protection circuits for both conventional and sense IGBTs
Programmable fault blanking time
Protection against overcurrent and short-circuit
Negative Gate drive capability
Pb-free device

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности