SN65MLVD205AD - TI

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

SN65MLVD205AD
Производитель

TI
Чип воркер Часть №

CW68706632
Категория

Чип интерфейса
Упаковка

SOIC-14
Описание

100Mbps Full-Duplex M-LVDS Transceiver 14-SOIC -40℃ to 85℃
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

SN65MLVD205AD Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

SN65MLVD205AD Чип интерфейса характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	SN65MLVD205AD
Производитель	TI
Чип воркер Часть №	CW68706632
Категория	Чип интерфейса
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	14 Pin
Корпус/Пакет	SOIC-14
Напряжение Питания (DC)	3.00V (min)
Ток Питания	24 mA
Количество Стежков	14 Position
Рассеяние Мощности	94 W
Скорость Передачи Данных	100 Mbps
Рабочая температура (Макс)	85 ℃
Рабочая температура (мин)	-40 ℃
Рассеиваемая Мощность (Макс)	94 mW
Напряжение питания	3V ~ 3.6V
Напряжение питания (Макс)	3.3 V
Напряжение питания (мин)	3 V
	Развернуть все
Рабочая Температура	-40℃ ~ 85℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Tube
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Compliance Edition	2015/06/15
ECCN кодекс	5A991.b.1

SN65MLVD205AD Описание продукта

The SN65MLVD20xx devices are multipoint low-voltage differential (M-LVDS) line drivers and receivers that are optimized to operate at signaling rates up to 100 Mbps. All parts comply with the multipoint low-voltage differential signaling (M-LVDS) standard TIA/EIA-899.
The SN65MLVD20xx devices have enhancements over their predecessors. Improved features include controlled slew rate on the driver output to help minimize reflections from unterminated stubs, which results in better signal integrity. Additionally, 8-kV ESD protection on the bus pins for more robustness. The same footprint definition was maintained making for an easy drop-in replacement for a system performance upgrade.
The devices are characterized for operation from –40°C to 85°C.

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности