LM393QT - ST Microelectronics

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

LM393QT
Производитель

ST Microelectronics
Чип воркер Часть №

CW8056646
Категория

Компаратор
Упаковка

DFN-8
Описание

Comparator Dual ±18V/36V 8Pin DFN EP T/R
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

LM393QT Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

LM393QT Компаратор характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	LM393QT
Производитель	ST Microelectronics
Чип воркер Часть №	CW8056646
Категория	Компаратор
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	8 Pin
Корпус/Пакет	DFN-8
Выходной Ток	18mA @5V
Количество Стежков	8 Position
Тепловое Сопротивление	57 ℃/W
Входное Напряжение Смещения	2 mV
Рабочая температура (Макс)	70 ℃
Рабочая температура (мин)	0 ℃
Напряжение питания	2V ~ 36V
	Развернуть все
Рабочая Температура	0℃ ~ 70℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Tape & Reel (TR)
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
ECCN кодекс	EAR99

LM393QT Описание продукта

The LM193, LM293, and LM393 devices consist of two independent low voltage comparators designed specifically to operate from a single supply over a wide range of voltages. Operation from split power supplies is also possible.
These comparators also have a unique characteristic in that the input common-mode voltage range includes ground even though operated from a single power supply voltage.
**Key Features**
Wide single-supply voltage range or dual supplies: 2 V to 36 V or ±1 V to ±18 V
Very low supply current (0.45 mA) independent of supply voltage (1 mW/comparator at 5 V)
Low input bias current: 20 nA typ.
Low input offset current: ±3 nA typ.
Low input offset voltage: ±1 mV typ.
Input common-mode voltage range includes ground
Low output saturation voltage: 80 mV typ. (Isink = 4 mA)
Differential input voltage range equal to the supply voltage
TTL, DTL, ECL, MOS, CMOS compatible outputs
Available in DFN8 2x2, MiniSO8, TSSOP8, and SO8 packages

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности