IR2110PBF - Infineon

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

IR2110PBF
Производитель

Infineon
Чип воркер Часть №

CW649608
Категория

Драйвер FET
Упаковка

PDIP-14
Описание

MOSFET DRVR 500V 2.5A 2Out Hi/Lo Side Non-Inv 14Pin PDIP
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

IR2110PBF Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

IR2110PBF Драйвер FET характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	IR2110PBF
Производитель	Infineon
Чип воркер Часть №	CW649608
Категория	Драйвер FET
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Through Hole
Количество Выводов	14 Pin
Корпус/Пакет	PDIP-14
Напряжение Питания (DC)	10.0V (min)
Рабочее Напряжение	10V ~ 20V
Номинальная Мощность	1.6 W
Время Нарастания/Спада	25ns, 17ns
Количество Выходных Интерфейсов	2 Output
Выходное Напряжение	500 V
Выходной Ток	2.5 A
Количество Каналов	2 Channel
Количество Стежков	14 Position
Рассеяние Мощности	1600 mW
Ток Покоя	180 µA
Время Нарастания	25 ns
Время падения	17 ns
Время падения (Макс)	25 ns
Время падения (Макс)	35 ns
Рабочая температура (Макс)	125 ℃
Рабочая температура (мин)	-40 ℃
Рассеиваемая Мощность (Макс)	1600 mW
Напряжение питания	3.3V ~ 20V
Напряжение питания (Макс)	20 V
Напряжение питания (мин)	10 V
	Развернуть все
Длина	20.19 mm
Ширина	7.11 mm
Высота	5.33 mm
Рабочая Температура	-40℃ ~ 150℃ (TJ)
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Tube
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Compliance Edition	2015/12/17
ECCN кодекс	EAR99

IR2110PBF Описание продукта

The IR2110PBF is a high voltage, high speed power MOSFET and IGBT driver with independent high and low side referenced output channels. The output drivers feature a high pulse current buffer stage designed for minimum driver cross-conduction.
Under voltage lockout for both channels
3.3V logic compatible
CMOS Schmitt-triggered inputs with pull-down
Cycle by cycle edge-triggered shutdown logic
Matched propagation delay for both channels
Outputs in phase with inputs

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности