CD74AC541E - TI

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

CD74AC541E
Производитель

TI
Чип воркер Часть №

CW21225763
Категория

Логический контроллер
Упаковка

PDIP-20
Описание

Buffer/Line Driver 8CH Non-Inverting 3-ST CMOS 20Pin PDIP Tube
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

CD74AC541E Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

CD74AC541E Логический контроллер характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	CD74AC541E
Производитель	TI
Чип воркер Часть №	CW21225763
Категория	Логический контроллер
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Through Hole
Количество Выводов	20 Pin
Корпус/Пакет	PDIP-20
Напряжение Питания (DC)	5.00 V, 5.50 V (max)
Количество Выходных Интерфейсов	8 Output
Количество Цепей	8 Circuit
Количество Каналов	8 Channel
Количество Стежков	20 Position
Количество Битов	8 Bit
Количество Вентилей	8 Gate
Количество входов	8 Input
Рабочая температура (Макс)	125 ℃
Рабочая температура (мин)	-55 ℃
Напряжение питания	1.5V ~ 5.5V
Напряжение питания (Макс)	5.5 V
Напряжение питания (мин)	1.5 V
	Развернуть все
Длина	24.33 mm
Ширина	6.35 mm
Высота	4.57 mm
Рабочая Температура	-55℃ ~ 125℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Tube
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Комплаенс	No SVHC
Военный Класс	Yes
REACH SVHC Compliance Edition	2015/06/15
ECCN кодекс	EAR99

CD74AC541E Описание продукта

The CD74AC541E is an octal Buffer/Line Driver uses the RCA ADVANCED CMOS technology. The CD74AC541 is non-inverting 3-state buffer having two active-LOW output enables. The AC types feature 1.5 to 5.5V operation and balanced noise immunity at 30% of the supply and it also features typical propagation delay of 4.5ns at VCC = 5V, TA = 25°C, CL = 50pF.
Buffered inputs
SCR-Latch-up-resistant CMOS process and circuit design
Speed of bipolar FAST™/AS/S with significantly reduced power consumption
Balanced propagation delays
±24mA Output drive current
Fan-out to 15 FAST* Ics
Drives 50R transmission lines

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности