CD4068BM - TI

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

CD4068BM
Производитель

TI
Чип воркер Часть №

CW5894500
Категория

Логический чип
Упаковка

SOIC-14
Описание

AND/NAND Gate 1Element 8IN CMOS 14Pin SOIC Tube
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

CD4068BM Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

CD4068BM Логический чип характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	CD4068BM
Производитель	TI
Чип воркер Часть №	CW5894500
Категория	Логический чип
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	14 Pin
Корпус/Пакет	SOIC-14
Напряжение Питания (DC)	3.00V ~ 18.0V
Количество Выходных Интерфейсов	2 Output
Выходной Ток	6.8 mA
Количество Цепей	1 Circuit
Количество Каналов	1 Channel
Количество Стежков	14 Position
Количество Битов	1 Bit
Время Задержки Распространения	300 ns
Узлы Напряжения	5.00 V, 10.0 V, 15.0 V
Количество Вентилей	1 Gate
Привод Выходного Тока	-1.00 mA
Количество входов	8 Input
Рабочая температура (Макс)	125 ℃
Рабочая температура (мин)	-55 ℃
Напряжение питания	3V ~ 18V
Напряжение питания (Макс)	18 V
Напряжение питания (мин)	3 V
	Развернуть все
Длина	8.75 mm
Ширина	4 mm
Высота	1.5 mm
Рабочая Температура	-55℃ ~ 125℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Tube
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Комплаенс	No SVHC
REACH SVHC Compliance Edition	2015/06/15
ECCN кодекс	EAR99

CD4068BM Описание продукта

The CD4068BM is a CMOS 8-input NAND/AND Gate. The device provides the system designer with direct implementation of the positive-logic 8-input NAND and AND functions and supplements the existing family of CMOS gates.
75ns Medium speed operation (tPHL, tPLH)
Buffered inputs and outputs
5V, 10V and 15V Parametric ratings
Standardized symmetrical output characteristics
100% Tested for quiescent current at 20V
1µA Maximum input current
2.5V at VDD = 15V Noise margin
Meets all requirements of JEDEC tentative standard No. 13B
Green product and no Sb/Br

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности