74HC373D - NXP

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

74HC373D
Производитель

NXP
Чип воркер Часть №

CW13909600
Категория

Логический замок
Упаковка

SOIC-20
Описание

IC, 74HC CMOS, SMD, 74HC373, SOIC20
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

74HC373D Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

74HC373D Логический замок характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	74HC373D
Производитель	NXP
Чип воркер Часть №	CW13909600
Категория	Логический замок
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	20 Pin
Корпус/Пакет	SOIC-20
Напряжение Питания (DC)	5.00 V
Выходной Ток	7.8 mA
Ток Питания	70 mA
Количество Стежков	20 Position
Количество Битов	8 Bit
Полярность	Non-Inverting
Количество Вентилей	8 Gate
Рабочая температура (Макс)	125 ℃
Рабочая температура (мин)	-40 ℃
Напряжение питания	7 V
Напряжение питания (Макс)	6 V
Напряжение питания (мин)	2 V
	Развернуть все
Рабочая Температура	-40℃ ~ 125℃
Жизненный Цикл Продукта	Unknown
Упаковка	Each
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Комплаенс	No SVHC
REACH SVHC Compliance Edition	2015/12/17

74HC373D Описание продукта

The 74HC373D is an octal transparent D Latch with 3-state outputs. It features LE and OE\ inputs. When LE is high, data at the inputs enter the latches. In this condition the latches are transparent, a latch output will change each time its corresponding D-input changes. When LE is low the latches store the information that was present at the inputs a set-up time preceding the high-to-low transition of LE. A high on OE\ causes the outputs to assume a high-impedance OFF-state. Operation of the OE\ input does not affect the state of the latches. Inputs include clamp diodes. This enables the use of current limiting resistors to interface inputs to voltages in excess of VCC.
3-state Non-inverting outputs for bus oriented applications
Common 3-state output enable input
CMOS Input level
TTL Input level
Complies with JEDEC standard No. 7A

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности