AT25DF321 - ATMEL

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

AT25DF321
Производитель

ATMEL
Чип воркер Часть №

CW1502525176
RoHS

Lead free / RoHS Compliant
Описание

32-megabit 2.7V Minimum SPI Serial Flash Memory
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

AT25DF321 Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

AT25DF321 характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	AT25DF321
Производитель	ATMEL
Чип воркер Часть №	CW1502525176
даташит	Datasheet
	Развернуть все
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Лицензия HK STC	NLR

AT25DF321 Описание продукта

Description
The AT25DF321 is a serial interface Flash memory device designed for use in a wide variety of high-volume consumer based applications in which program code is shadowed from Flash memory into embedded or external RAM for execution. The flexible erase architecture of the AT25DF321, with its erase granularity as small as 4-Kbytes, makes it ideal for data storage as well, eliminating the need for additional data storage
EEPROM devices.
Features
• Single 2.7V - 3.6V Supply
• Serial Peripheral Interface (SPI) Compatible
– Supports SPI Modes 0 and 3
• 70 MHz Maximum Clock Frequency
• Flexible, Uniform Erase Architecture
– 4-Kbyte Blocks
– 32-Kbyte Blocks
– 64-Kbyte Blocks
– Full Chip Erase
• Individual Sector Protection with Global Protect/Unprotect Feature
– Sixty-Four 64-Kbyte Physical Sectors
• Hardware Controlled Locking of Protected Sectors
• Flexible Programming
– Byte/Page Program (1 to 256 Bytes)
• Automatic Checking and Reporting of Erase/Program Failures
• JEDEC Standard Manufacturer and Device ID Read Methodology
• Low Power Dissipation
– 7 mA Active Read Current (Typical)
– 15 µA Deep Power-Down Current (Typical)
• Endurance: 100,000 Program/Erase Cycles
• Data Retention: 20 Years
• Complies with Full Industrial Temperature Range
• Industry Standard Green (Pb/Halide-free/RoHS Compliant) Package Options
– 8-lead SOIC (200-mil wide)
– 16-lead SOIC (300-mil wide)

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности