TLV1701AIDCKT - TI

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

TLV1701AIDCKT
Производитель

TI
Чип воркер Часть №

CW9419467
Категория

Компаратор
Упаковка

SC-70-5
Описание

TEXAS INSTRUMENTS TLV1701AIDCKT Analog Comparator, Single, Micropower, 1, 560ns, 2.2V to 36V, ± 1.1V to ± 18V, SC-70, 5Pins
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

TLV1701AIDCKT Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

TLV1701AIDCKT Компаратор характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	TLV1701AIDCKT
Производитель	TI
Чип воркер Часть №	CW9419467
Категория	Компаратор
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	5 Pin
Корпус/Пакет	SC-70-5
Выходной Ток	20 mA
Количество Каналов	1 Channel
Количество Стежков	5 Position
Рабочая температура (Макс)	125 ℃
Рабочая температура (мин)	-40 ℃
Напряжение питания (Макс)	36 V
Напряжение питания (мин)	2.2 V
	Развернуть все
Длина	2.15 mm
Ширина	1.4 mm
Высота	1 mm
Рабочая Температура	-40℃ ~ 125℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Tape & Reel (TR)
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Compliance Edition	2015/06/15

TLV1701AIDCKT Описание продукта

The TLV1701AIDCKT is a micro-Power Comparator offers a wide supply range, rail-to-rail inputs, low quiescent current and low propagation delay. The open collector output offers the advantage of allowing the output to be pulled to any voltage rail up to 36V above the negative power supply, regardless of the TLV170x supply voltage. This device is available in single channel version. Low input offset voltage, low input bias currents, low supply current and open-collector configuration make the TLV170x family flexible enough to handle almost any application, from simple voltage detection to driving a single relay.
Low quiescent current - 55µA per comparator
Input common-mode range includes both rails
Open collector outputs - up to 36V above negative supply regardless of supply voltage
Green product and no Sb/Br

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности