AD8235 - ADI

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

AD8235
Производитель

ADI
Чип воркер Часть №

CW353144506
RoHS

Lead free / RoHS Compliant
Описание

40µA Micropower Instrumentation Amplifier in WLCSP Package
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

AD8235 Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

AD8235 характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	AD8235
Производитель	ADI
Чип воркер Часть №	CW353144506
даташит	Datasheet
	Развернуть все
Жизненный Цикл Продукта	Active
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant

AD8235 Описание продукта

Product Details
The AD8235 is the smallest and lowest power instrumentation amplifier in the industry. It is available in a 1.5 mm × 2.2 mm wafer level chip scale package (WLCSP). The AD8235 draws a maximum quiescent current of 40 μA. In addition, it draws a maximum 500 nA of current during shutdown mode, making it an excellent instrumentation amplifier for battery powered, portable applications.
The AD8235 can operate on supply voltages as low as 1.8 V. The input stage allows for wide rail-to-rail input voltage range without the crossover distortion, common in other designs. The rail-torail output enables easy interfacing to ADCs.
The AD8235 is an excellent choice for signal conditioning. Its low input bias current of 50 pA and high CMRR of 110 dB (G = 100) offer tremendous value for its size and low power. It is specified over the extended industrial temperature range of −40°C to 125°C.
**Applications**
Medical instrumentation
Low-side current sense
Portable electronics
### Features and Benefits
Low power
40 μA maximum supply current
6 nA shutdown current
Low input currents
50 pA input bias current
25 pA input offset current
High Common Mode Rejection Ratio (CMRR)
110 dB CMRR , G = 100
Space saving
WLCSP package
Zero input crossover distortion
Versatile
Rail-to-rail input and output
Shutdown
Gain set with single resistor (G = 5 to 200)
AD8236: μSOIC package version of AD8235

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности