SN74LS05DR - TI

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

SN74LS05DR
Производитель

TI
Чип воркер Часть №

CW8646400
Категория

Логический чип
Упаковка

SOIC-14
Описание

TEXAS INSTRUMENTS SN74LS05DR Inverter, 74LS05, 1Input, 8mA, 4.75V to 5.25V, SOIC-14
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

SN74LS05DR Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

SN74LS05DR Логический чип характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	SN74LS05DR
Производитель	TI
Чип воркер Часть №	CW8646400
Категория	Логический чип
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	14 Pin
Корпус/Пакет	SOIC-14
Напряжение Питания (DC)	4.75V ~ 5.25V
Количество Выходных Интерфейсов	6 Output
Выходной Ток	8 mA
Количество Цепей	6 Circuit
Количество Каналов	6 Channel
Количество Стежков	14 Position
Количество Битов	6 Bit
Время Задержки Распространения	32.0 ns
Узлы Напряжения	5.00 V
Количество Вентилей	6 Gate
Количество входов	6 Input
Рабочая температура (Макс)	70 ℃
Рабочая температура (мин)	0 ℃
Напряжение питания	4.75V ~ 5.25V
Напряжение питания (Макс)	5.25 V
Напряжение питания (мин)	4.75 V
	Развернуть все
Высота	1.5 mm
Рабочая Температура	0℃ ~ 70℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Tape & Reel (TR)
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Compliance Edition	2015/06/15
ECCN кодекс	EAR99

SN74LS05DR Описание продукта

description/ordering information
These devices contain six independent inverters. To perform correctly, the open-collector outputs require pullup resistors. These devices may be connected to other open-collector outputs to implement active-low wired-OR or active-high wire-AND functions. Open-collector devices often are used to generate high VOH levels.
• Package Options Include Plastic Small-Outline (D, NS), Shrink Small-Outline (DB), and Ceramic Flat (W) Packages, Ceramic Chip Carriers (FK), and Standard Plastic (N) and Ceramic (J) DIPs
• Dependable Texas Instrument Quality and Reliability

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности