74LCX138MTC - Fairchild

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

74LCX138MTC
Производитель

Fairchild
Чип воркер Часть №

CW12427443
Категория

Логический контроллер
Упаковка

TSSOP-16
Описание

FAIRCHILD SEMICONDUCTOR 74LCX138MTC Decoder / Demultiplexer, 8 Output, 2V to 3.6V, TSSOP-16
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

74LCX138MTC Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

74LCX138MTC Логический контроллер характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	74LCX138MTC
Производитель	Fairchild
Чип воркер Часть №	CW12427443
Категория	Логический контроллер
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	16 Pin
Корпус/Пакет	TSSOP-16
Напряжение Питания (DC)	2.00V (min)
Количество Выходных Интерфейсов	8 Output
Количество Цепей	1 Circuit
Количество Стежков	16 Position
Количество входов	3 Input
Рабочая температура (Макс)	85 ℃
Рабочая температура (мин)	-40 ℃
Напряжение питания	2V ~ 3.6V
Напряжение питания (Макс)	3.6 V
Напряжение питания (мин)	2 V
	Развернуть все
Длина	5 mm
Ширина	4.4 mm
Высота	0.9 mm
Рабочая Температура	-40℃ ~ 85℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Cut Tape (CT)
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Комплаенс	No SVHC
REACH SVHC Compliance Edition	2015/06/15
ECCN кодекс	EAR99

74LCX138MTC Описание продукта

The 74LCX138MTC is a 1-of-8 Decoder/Demultiplexer with 5V tolerant inputs. This low voltage high-speed device is ideally suited for high-speed memory chip select address decoding. The multiple input enables allow parallel expansion to a 1-of-24 decoder using just three LCX138 devices or a 1-of-32 decoder using four LCX138 devices and one inverter. The 74LCX138 is fabricated with advanced CMOS technology to achieve high speed operation while maintaining CMOS low power dissipation.
Power down high impedance inputs and outputs
Implements patented noise/EMI reduction circuitry
Latch-up performance exceeds 500mA
±24mA Output drive current

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности