1N4742ATR - ON Semiconductor

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

1N4742ATR
Производитель

ON Semiconductor
Чип воркер Часть №

CW3380800
Категория

Зинеровский диод
Упаковка

DO-41
Описание

1N4742 Series 1W 12V 5uA Axial Through Hole Zener Diode - DO-41
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

1N4742ATR Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

1N4742ATR Зинеровский диод характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	1N4742ATR
Производитель	ON Semiconductor
Чип воркер Часть №	CW3380800
Категория	Зинеровский диод
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Through Hole
Количество Выводов	2 Pin
Корпус/Пакет	DO-41
Допустимое Отклонение Ёмкости	±5 %
Количество Стежков	2 Position
Рассеяние Мощности	1 W
Испытательный ток	21 mA
Напряжение Зенера	12 V
Максимальная входная мощность	1 W
Рабочая температура (Макс)	200 ℃
Рабочая температура (мин)	-65 ℃
Рассеиваемая Мощность (Макс)	1 W
	Развернуть все
Длина	5.2 mm
Рабочая Температура	-65℃ ~ 200℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Tape & Reel (TR)
RoHS Комплаенс	Compliant with Exemption
Бессвинцовая Статус	Lead Free

1N4742ATR Описание продукта

This is a complete series of 1 Watt Zener diode with limits and excellent operating characteristics that reflect the superior capabilities of silicon-oxide passivated junctions. All this in an axial-lead hermetically sealed glass package that offers protection in all common environmental conditions.
Features
---
|
Zener Voltage Range - 3.3 V to 91 V
ESD Rating of Class 3 (>16 KV) per Human Body Model
DO-41 (DO-204AL) Package
Double Slug Type Construction
Metallurgical Bonded Construction
Oxide Passivated Die
Mechanical Characteristics:
CASE: Double slug type, hermetically sealed glass
FINISH: All external surfaces are corrosion resistant and leads are readily solderable
MAXIMUM LEAD TEMPERATURE FOR SOLDERING PURPOSES: 230°C, 1/16" from the case for 10 seconds
POLARITY: Cathode indicated by polarity band
MOUNTING POSITION: Any

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности