VCNL4040M3OE - VISHAY

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

VCNL4040M3OE
Производитель

VISHAY
Чип воркер Часть №

CW6453396
Упаковка

SMD-8
Описание

VCNL4040 Series 3.6V 200mm 16Bit I2C SMT Proximity and Ambient Light Sensor
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

VCNL4040M3OE Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

VCNL4040M3OE характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	VCNL4040M3OE
Производитель	VISHAY
Чип воркер Часть №	CW6453396
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	8 Pin
Корпус/Пакет	SMD-8
Выходной Ток	200 mA
Ток Питания	300 µA
Количество Стежков	8 Position
Длина Волны	550 nm
Рабочая температура (Макс)	85 ℃
Рабочая температура (мин)	-40 ℃
Напряжение питания	2.5V ~ 3.6V
Напряжение питания (Макс)	3.6 V
Напряжение питания (мин)	2.5 V
	Развернуть все
Длина	4 mm
Ширина	2 mm
Высота	1.1 mm
Рабочая Температура	-40℃ ~ 85℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Tape & Reel (TR)
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free

VCNL4040M3OE Описание продукта

The VCNL4040M3OE is an integrated Proximity Sensor (PS), Ambient Light Sensor (ALS) and a high power IRED incorporates photodiodes, amplifiers and analog to digital converting circuits into a single chip by CMOS process. The 16-bit high resolution ALS offers excellent sensing capabilities with sufficient selections to fulfil most applications whether dark or high transparency lens design. High and low interrupt thresholds can be programmed for both ALS and PS, allowing the component to use a minimal amount of the microcontrollers resources. The proximity sensor features an intelligent cancellation scheme, so that cross talk phenomenon is eliminated effectively. The patented FiltronTM technology achieves ambient light spectral sensitivity closest to real human eye response and offers the best background light cancellation capability (including sunlight) without utilizing the microcontrollers resources.

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности