TSX3702IYDT - ST Microelectronics

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

TSX3702IYDT
Производитель

ST Microelectronics
Чип воркер Часть №

CW80411554
Упаковка

SO-8
Описание

Micropower (5uA) 16V dual CMOS comparator, push pull output
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

TSX3702IYDT Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

TSX3702IYDT характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	TSX3702IYDT
Производитель	ST Microelectronics
Чип воркер Часть №	CW80411554
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	8 Pin
Корпус/Пакет	SO-8
Выходной Ток	20 mA
Коэффициент Ослабления Синфазного Сигнала	85 dB
Входное Напряжение Смещения	5 mV
Рабочая температура (Макс)	125 ℃
Рабочая температура (мин)	-40 ℃
	Развернуть все
Рабочая Температура	-40℃ ~ 125℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Tape & Reel (TR)
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус
ECCN кодекс	EAR99

TSX3702IYDT Описание продукта

The TSX3702 is a micropower CMOS dual voltage comparator which exhibits a very low current consumption of 5 µA typical per comparator. This device was designed as the improvement of the TS3702: it shows a lower current consumption, a better input offset voltage, and an enhanced ESD tolerance. The TSX3702 is fully specified over a wide temperature range and is proposed in automotive grade for the SO8 package. It is fully compatible with the TS3702 CMOS comparator and is available with similar packages. New tiny packages (MiniSO8 and DFN8 2x2 mm) are also proposed for the TSX3702 thus allowing even more integration on applications.
**Key Features**
Low supply current: 5 µA typ. per comparator
Wide single supply range 2.7 V to 16 V or dual supplies (±1.35 V to ±8 V)
Extremely low input bias current: 1 pA typ.
Input common-mode voltage range includes ground
Push-pull output
High input impedance: 1012 Ω typ
Fast response time: 2.7 µs typ. for 5 mV overdrive
ESD tolerance: 4 kV HBM, 200 V MM

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности