TS5A9411DCKT - TI

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

TS5A9411DCKT
Производитель

TI
Чип воркер Часть №

CW23228410
Категория

Чип аналогового переключателя
Упаковка

SC-70-6
Описание

TEXAS INSTRUMENTS TS5A9411DCKT Analog Switch, Single Channel, SPDT, 1Channels, 10Ω, 2.25V to 5.5V, SC-70, 6Pins
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

TS5A9411DCKT Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

TS5A9411DCKT Чип аналогового переключателя характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	TS5A9411DCKT
Производитель	TI
Чип воркер Часть №	CW23228410
Категория	Чип аналогового переключателя
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	6 Pin
Корпус/Пакет	SC-70-6
Количество Выходных Интерфейсов	2 Output
Ток Питания	10 nA
Количество Цепей	1 Circuit
Количество Каналов	1 Channel
Количество Стежков	6 Position
Узлы Напряжения	2.50 V, 3.00 V, 3.30 V
Ширина Ленты	100 MHz
Количество входов	1 Input
Рабочая температура (Макс)	85 ℃
Рабочая температура (мин)	-40 ℃
Полоса пропускания 3 дБ	100 MHz
Напряжение питания	2.25V ~ 5.5V
Напряжение питания (Макс)	5.5 V
Напряжение питания (мин)	2.25 V
	Развернуть все
Длина	2 mm
Ширина	1.25 mm
Высота	0.9 mm
Рабочая Температура	-40℃ ~ 85℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Cut Tape (CT)
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Комплаенс	No SVHC
REACH SVHC Compliance Edition	2015/06/15

TS5A9411DCKT Описание продукта

The TS5A9411DCKT is a single-pole double-throw (SPDT) single-channel Analog Switch that is designed to operate from 2.25 to 5.5V. The device offers low on-state resistance, low leakage and low power with a break-before-make feature.
Low on-state resistance
Low power consumption
TTL/CMOS Compatible
Low input/output capacitance
Excellent ON-State Resistance Matching
Low Total Harmonic Distortion (THD)
Latch-up performance exceeds 100mA Per JESD 78, Class II
ESD performance tested per JESD
Green product and no Sb/Br

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности