TPS65135RTER - TI

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

TPS65135RTER
Производитель

TI
Чип воркер Часть №

CW1602375
Категория

Чип стабилизации напряжения
Упаковка

WQFN-16
Описание

Split-Rail Converter, Single-Inductor, Multiple-Output (SIMO) Regulator 16-WQFN -40℃ to 85℃
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

TPS65135RTER Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

TPS65135RTER Чип стабилизации напряжения характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	TPS65135RTER
Производитель	TI
Чип воркер Часть №	CW1602375
Категория	Чип стабилизации напряжения
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	16 Pin
Корпус/Пакет	WQFN-16
Количество Выходных Интерфейсов	2 Output
Выходной Ток	80 mA
Ток Покоя	7.00 mA
Количество Регулируемых Выходов	2 Output
Частота Переключения	1 MHz
Топология	Buck, Boost
Максимальное входное напряжение	5.5 V
Входное напряжение (мин)	2.5 V
Рабочая температура (Макс)	85 ℃
Рабочая температура (мин)	-40 ℃
Входное напряжение	2.5V ~ 5.5V
	Развернуть все
Рабочая Температура	-40℃ ~ 85℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Tape & Reel (TR)
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
ECCN кодекс	EAR99
Лицензия HK STC	NLR

TPS65135RTER Описание продукта

The TPS65135 device is a high-efficiency split-rail power supply. Thanks to its single-inductor, multiple-output (SIMO) topology, the converter uses very few external components. The device operates with a buck-boost topology and generates positive and negative output voltages above or below the input supply voltage. The SIMO topology achieves excellent line and load regulation, which is necessary, for example, to avoid disturbance of a mobile phone display as a result of input voltage variations that occur during transmit periods in mobile communication systems. The device can also be used as a general-purpose split-rail supply as long as the output current mismatch between the rails is less than 50%.

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности