TPIC6273 - TI

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

TPIC6273
Производитель

TI
Чип воркер Часть №

CW486822600
Категория

Активная деталь
RoHS

Lead free / RoHS Compliant
Описание

POWER LOGIC OCTAL D-TYPE LATCH
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

TPIC6273 Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

TPIC6273 Активная деталь характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	TPIC6273
Производитель	TI
Чип воркер Часть №	CW486822600
Категория	Активная деталь
даташит	Datasheet
	Развернуть все
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free

TPIC6273 Описание продукта

The TPIC6273 is a monolithic high-voltage high-current power logic octal D-type latch with DMOS transistor outputs designed for use in systems that require relatively high load power. The device contains a built-in voltage clamp on the outputs for inductive transient protection. Power driver applications include relays, solenoids, and other medium-current or high-voltage loads.
The TPIC6273 contains eight positive-edge-triggered D-type flip-flops with a direct clear input. Each flip-flop features an open-drain power DMOS transistor output.
When clear (CLR\\) is high, information at the D inputs meeting the setup time requirements is transferred to the DRAIN outputs on the positive-going edge of the clock pulse. Clock triggering occurs at a particular voltage level and is not directly related to the transition time of the positive-going pulse. When the clock input (CLK) is at either the high or low level, the D input signal has no effect at the output. An asynchronous CLR\ is provided to turn all eight DMOS-transistor outputs off.
The TPIC6273 is characterized for operation over the operating case temperature range of -40°C to 125°C.
Low rDS(on) . . . 1.3 Typ
Avalanche Energy . . . 75 mJ
Eight Power DMOS Transistor Outputs of
250-mA Continuous Current
1.5-A Pulsed Current Per Output
Output Clamp Voltage up to 45 V
Low Power Consumption

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности