TPD6E004RSER - TI

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

TPD6E004RSER
Производитель

TI
Чип воркер Часть №

CW1951757
Категория

Телевизионные диоды
Упаковка

UQFN-8
Описание

Low-Capacitance 6Channel +/-15kV ESD Protection Array for High-Speed Data Interfaces 8-UQFN -40℃ to 85℃
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

TPD6E004RSER Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

TPD6E004RSER Телевизионные диоды характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	TPD6E004RSER
Производитель	TI
Чип воркер Часть №	CW1951757
Категория	Телевизионные диоды
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	8 Pin
Корпус/Пакет	UQFN-8
Рабочее Напряжение	5.5 V
Ёмкость	2 pF
Пробивное Напряжение	6 V
Количество Каналов	6 Channel
Количество Стежков	8 Position
Зажимное напряжение	20 V
Минимальное напряжение пробоя	6 V
Рабочая температура (Макс)	85 ℃
Рабочая температура (мин)	-40 ℃
	Развернуть все
Длина	1.5 mm
Ширина	1.5 mm
Высота	0.55 mm
Рабочая Температура	-40℃ ~ 85℃ (TA)
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Tape & Reel (TR)
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Комплаенс	No SVHC
REACH SVHC Compliance Edition	2014/12/17
ECCN кодекс	EAR99

TPD6E004RSER Описание продукта

The TPD6E004 device is a low-capacitance, ±15-kV ESD-protection diode array designed to protect sensitive electronics attached to communication lines. Each channel consists of a pair of diodes that steers ESD current pulses to VCC or GND. The TPD6E004 protects against ESD pulses up to ±15-kV human-body model (HBM), ±8-kV contact ESD, and ±12-kV air-gap ESD as specified in IEC 61000-4-2. This device has a typical 1.6-pF capacitance per channel, making it ideal for use in high-speed data I/O interfaces.
The TPD6E004 device is available in the RSE package and is specified for 40°C to +85°C operation.
The TPD6E004 device is a six-channel ESD structure designed for USB, Ethernet, and FireWire applications.

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности