TMS320F28069PFPQ - TI

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

TMS320F28069PFPQ
Производитель

TI
Чип воркер Часть №

CW8212983
Категория

Микроконтроллер
Упаковка

HTQFP-80
Описание

MCU 32Bit C2000 C28x RISC 128KB Flash 3.3V 80Pin HTQFP EP Tray
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

TMS320F28069PFPQ Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

TMS320F28069PFPQ Микроконтроллер характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	TMS320F28069PFPQ
Производитель	TI
Чип воркер Часть №	CW8212983
Категория	Микроконтроллер
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	80 Pin
Корпус/Пакет	HTQFP-80
Частота	90 MHz
Тактовая Частота	90.0 MHz
Размер ОЗУ	100 KB
Размер Флэш-памяти	262144 B
Количество УАПП	2 UART
Количество АЦП	1 ADC
Рабочая температура (Макс)	125 ℃
Рабочая температура (мин)	-40 ℃
Количество ЦАПов	3 DAC
Напряжение питания (Макс)	3.63 V
Напряжение питания (мин)	2.97 V
	Развернуть все
Длина	12.2 mm
Ширина	12.2 mm
Высота	1.05 mm
Рабочая Температура	-40℃ ~ 125℃ (TA)
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Tray
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free

TMS320F28069PFPQ Описание продукта

The F2806x Piccolo family of microcontrollers (MCUs) provides the power of the C28x core and CLA coupled with highly integrated control peripherals in low pin-count devices. This family is code-compatible with previous C28x-based code, and also provides a high level of analog integration.
An internal voltage regulator allows for single-rail operation. Enhancements have been made to the High-Resolution Pulse Width Modulator (HRPWM) module to allow for dual-edge control (frequency modulation). Analog comparators with internal 10-bit references have been added and can be routed directly to control the ePWM outputs. The ADC converts from 0 to 3.3-V fixed full-scale range and supports ratio-metric VREFHI/VREFLO references. The ADC interface has been optimized for low overhead and latency.

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности