TMP411ADR - TI

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

TMP411ADR
Производитель

TI
Чип воркер Часть №

CW48957933
Категория

Датчик температуры
Упаковка

SOIC-8
Описание

Temperature Sensor IC, Digital, ± 1℃, -40℃, +125℃, SOIC, 8Pins
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

TMP411ADR Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

TMP411ADR Датчик температуры характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	TMP411ADR
Производитель	TI
Чип воркер Часть №	CW48957933
Категория	Датчик температуры
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	8 Pin
Корпус/Пакет	SOIC-8
Напряжение Питания (DC)	2.70V (min)
Ток Питания	400 µA
Количество Битов	12 Bit
Ток Покоя	400 µA
Рабочая температура (Макс)	125 ℃
Рабочая температура (мин)	-40 ℃
Напряжение питания	2.7V ~ 5.5V
Напряжение питания (Макс)	5.5 V
Напряжение питания (мин)	2.7 V
	Развернуть все
Рабочая Температура	-55℃ ~ 127℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Tape & Reel (TR)
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free

TMP411ADR Описание продукта

DESCRIPTION
The TMP411 is a remote temperature sensor monitor with a built-in local temperature sensor. The remote temperature sensor diode-connected transistors are typically low-cost, NPN- or PNP-type transistors or diodes that are an integral part of microcontrollers, microprocessors, or FPGAs.
FEATURES
±1°C REMOTE DIODE SENSOR
±1°C LOCAL TEMPERATURE SENSOR
PROGRAMMABLE NON-IDEALITY FACTOR
SERIES RESISTANCE CANCELLATION
ALERT FUNCTION
PROGRAMMABLE RESOLUTION: 9 to 12 Bits
PROGRAMMABLE THRESHOLD LIMITS
TWO-WIRE/SMBusSERIAL INTERFACE
MINIMUM AND MAXIMUM TEMPERATURE MONITORS
MULTIPLE INTERFACE ADDRESSES
ALERT/THERM2PIN CONFIGURATION
DIODE FAULT DETECTION
APPLICATIONS
LCD/DLP/LCOS PROJECTORS
SERVERS
INDUSTRIAL CONTROLLERS
CENTRAL OFFICE TELECOM EQUIPMENT
DESKTOP AND NOTEBOOK COMPUTERS
STORAGE AREA NETWORKS (SAN)
INDUSTRIAL AND MEDICAL EQUIPMENT
PROCESSOR/FPGA TEMPERATURE MONITORING

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности