TLV3402ID - TI

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

TLV3402ID
Производитель

TI
Чип воркер Часть №

CW53086826
Категория

Компаратор
Упаковка

SOIC-8
Описание

TEXAS INSTRUMENTS TLV3402ID Analog Comparator, Dual, Low Power, 2, 55µs, ± 1.35V to ± 8V, SOIC, 8Pins
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

TLV3402ID Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

TLV3402ID Компаратор характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	TLV3402ID
Производитель	TI
Чип воркер Часть №	CW53086826
Категория	Компаратор
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	8 Pin
Корпус/Пакет	SOIC-8
Напряжение Питания (DC)	2.50V (min)
Выходной Ток	10 mA
Ток Питания	0.00064 mA
Количество Цепей	2 Circuit
Количество Каналов	2 Channel
Рассеяние Мощности	710 W
Коэффициент Ослабления Синфазного Сигнала	88 dB
Входное Напряжение Смещения	3.6 mV
Входной Ток Смещения	0.25 nA
Рабочая температура (Макс)	125 ℃
Рабочая температура (мин)	-40 ℃
Рассеиваемая Мощность (Макс)	710 mW
Напряжение питания (Макс)	16 V
Напряжение питания (мин)	2.7 V
	Развернуть все
Длина	4.9 mm
Ширина	3.91 mm
Высота	1.58 mm
Рабочая Температура	-40℃ ~ 125℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Tube
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Compliance Edition	2015/06/15

TLV3402ID Описание продукта

description
The TLV340x is Texas Instruments’ first family of nanopower comparators with only 470 nA per channel supply current, which make this device ideal for battery power and wireless handset applications.
Low Supply Current. . . 470 nA/Per Channel
Input Common-Mode Range Exceeds the Rails. . . –0.1 V to VCC+ 5 V
Supply Voltage Range. . . 2.5 V to 16 V
Reverse Battery Protection Up to 18 V
Open Drain CMOS Output Stage
Specified Temperature Range
– 0°C to 70°C – Commercial Grade
– –40°C to 125°C – Industrial Grade
Ultrasmall Packaging
– 5-Pin SOT-23 (TLV3401)
– 8-Pin MSOP (TLV3402)
Universal Op-Amp EVM (Reference SLOU060 for more information)

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности