TLE9255WSK - Infineon

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

TLE9255WSK
Производитель

Infineon
Чип воркер Часть №

CW376927217
Упаковка

PG-DSO-14
Описание

HS CAN Transceiver with Partial Networking
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

TLE9255WSK Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

TLE9255WSK характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	TLE9255WSK
Производитель	Infineon
Чип воркер Часть №	CW376927217
даташит	Datasheet
Корпус/Пакет	PG-DSO-14
Напряжение питания	3.3 V
	Развернуть все
Жизненный Цикл Продукта	Active
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free

TLE9255WSK Описание продукта

Description:
The TLE9255WSK is part of the latest Infineon CAN transceiver family being fully compliant to the new ISO11898-2 from 2016 and also to the former ISO11898-6. The TLE9255WSK is packaged in a standard DSO-14.
Besides CAN partial networking functions, the transceiver is CAN FD compliant and can drive and receive CAN FD messages up to 2Mbit/s. It can also be used to block the payload of CAN FD messages. This CAN FD tolerant feature allows the usage of microcontrollers in CAN FD networks, which are not CAN FD capable.
The SPI interface of the TLE9255WLC is used to setup the wake-up functions, INH output control, mode control and the undervoltage control of the device. This allows a very flexible usage of the TLE9255WLC in different automotive applications.
Summary of Features:
Fully compatible to ISO 11898-2 (2016)
CAN Partial Networking (CAN PN) and CAN FD up to 2 MBit/s
Wide common mode range for electromagnetic immunity (EMI)
Very low electromagnetic emission (EME)
Excellent ESD robustness, ± 8 kV according to ISO 61000-4-2
Independent supply concept on VCC and VBAT pins
Short circuit proof to GND and to battery
Overtemperature protection
Wake-up frame detection with CAN FD tolerant feature
Local wake-up input
SPI clock frequency up to 4 MHz
Green Product (RoHS compliant)
AEC Qualified

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности