TLC555CD - TI

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

TLC555CD
Производитель

TI
Чип воркер Часть №

CW7136346
Категория

Деталь тактового сигнала
Упаковка

SOIC-8
Описание

TEXAS INSTRUMENTS TLC555CD Timer, Oscillator & Pulse Generator IC, LinCMOS, 2.1MHz, Astable, 2V to 15V, SOIC-8
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

TLC555CD Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

TLC555CD Деталь тактового сигнала характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	TLC555CD
Производитель	TI
Чип воркер Часть №	CW7136346
Категория	Деталь тактового сигнала
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	8 Pin
Корпус/Пакет	SOIC-8
Частота	2.1 MHz
Напряжение Питания (DC)	2.00V (min)
Номинальный Ток	250 A
Номинальная Мощность	725 mW
Выходной Ток	15 mA
Ток Питания	360 µA
Количество Стежков	8 Position
Рассеяние Мощности	0.725 W
Ток Покоя	250 µA
Рабочая температура (Макс)	70 ℃
Рабочая температура (мин)	0 ℃
Рассеиваемая Мощность (Макс)	725 mW
Напряжение питания	2V ~ 15V
Напряжение питания (Макс)	15 V
Напряжение питания (мин)	2 V
	Развернуть все
Длина	4.9 mm
Ширина	3.91 mm
Высота	1.58 mm
Рабочая Температура	0℃ ~ 70℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Each
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Комплаенс	No SVHC
REACH SVHC Compliance Edition	2015/06/15
ECCN кодекс	EAR99

TLC555CD Описание продукта

The TLC555CD is a Low Power Timer is fully compatible with CMOS, TTL and MOS logic and operates at frequencies up to 2MHz. Because of its high input impedance, this device uses smaller timing capacitors than those used by the NE555. As a result, more accurate time delays and oscillations are possible. Power consumption is low across the full range of power supply voltage.
Very low power consumption
Capable of operation in a stable mode
CMOS output capable of swinging rail to rail
High output-current capability
Output fully compatible with CMOS, TTL and MOS
Green product and no Sb/Br

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности