TLC27M2ID - TI

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

TLC27M2ID
Производитель

TI
Чип воркер Часть №

CW31177583
Категория

Операционный усилитель
Упаковка

SOIC-8
Описание

TEXAS INSTRUMENTS TLC27M2ID Operational Amplifier, Dual, 2 Amplifier, 525kHz, 0.43V/µs, 4V to 16V, SOIC, 8Pins
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

TLC27M2ID Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

TLC27M2ID Операционный усилитель характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	TLC27M2ID
Производитель	TI
Чип воркер Часть №	CW31177583
Категория	Операционный усилитель
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	8 Pin
Корпус/Пакет	SOIC-8
Выходной Ток	≤30 mA
Ток Питания	285 µA
Количество Цепей	2 Circuit
Количество Каналов	2 Channel
Рассеяние Мощности	0.725 W
Коэффициент Ослабления Синфазного Сигнала	65 dB
Входной Дрейф Смещения	1.70 µV/K
Ширина Ленты	525 kHz
Скорость Нарастания	460 mV/μs
Произведение Коэффициента Усиления на Ширину Полосы Пропускания	0.525 MHz
Входное Напряжение Смещения	1.1 mV
Входной Ток Смещения	0.7 pA
Рабочая температура (Макс)	85 ℃
Рабочая температура (мин)	-40 ℃
Gain Bandwidth	635 kHz
Рассеиваемая Мощность (Макс)	725 mW
Минимальный диапазон CMRR	65 dB
Напряжение питания	4V ~ 16V
	Развернуть все
Длина	4.9 mm
Ширина	3.91 mm
Высота	1.58 mm
Рабочая Температура	-40℃ ~ 85℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Tube
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Комплаенс	No SVHC
REACH SVHC Compliance Edition	2015/06/15
ECCN кодекс	EAR99

TLC27M2ID Описание продукта

* Trimmed Offset Voltage: TLC27M7. . . 500 µV Max at 25°C, VDD= 5 V
* Input Offset Voltage Drift...Typically 0.1 µV/Month, Including the First 30 Days
* Wide Range of Supply Voltages Over Specified Temperature Ranges:
0°C to 70°C...3 V to 16 V
−40°C to 85°C...4 V to 16 V
−55°C to 125°C...4 V to 16 V
* Single-Supply Operation
* Common-Mode Input Voltage Range Extends Below the Negative Rail (C-Suffix, I-Suffix Types)

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности