TL7726CD - TI

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

TL7726CD
Производитель

TI
Чип воркер Часть №

CW27384230
Категория

Активная деталь
Упаковка

SOIC-8
Описание

Clamping Circuit 0°C to 70℃ 8Pin SOIC Tube
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

TL7726CD Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

TL7726CD Активная деталь характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	TL7726CD
Производитель	TI
Чип воркер Часть №	CW27384230
Категория	Активная деталь
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	8 Pin
Корпус/Пакет	SOIC-8
Напряжение Питания (DC)	4.50V (min)
Рабочее Напряжение	5 V
Количество Цепей	6 Circuit
Количество Стежков	8 Position
Рабочая температура (Макс)	70 ℃
Рабочая температура (мин)	0 ℃
Напряжение питания (Макс)	5.5 V
Напряжение питания (мин)	4.5 V
	Развернуть все
Длина	4.9 mm
Ширина	3.91 mm
Высота	1.58 mm
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Tube
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Compliance Edition	2015/06/15
ECCN кодекс	EAR99

TL7726CD Описание продукта

The TL7726CD is a Hex Clamping IC that consists of six identical clamping circuits that monitor an input voltage with respect to a reference value, REF. For an input voltage (VI) in the range of GND to <REF, the clamping circuits present a very high impedance to ground, drawing current of less than 10µA. The clamping circuits are active for VI <GND or VI >REF when, they have a very low impedance. These characteristics make the TL7726 ideal as protection devices for CMOS semiconductor devices in environments where there are large positive or negative transients to protect analog-to-digital converters in automotive or industrial systems.
Protects against latch-up
25mA Current sink in active state
Less than 1mW Dissipation in standby condition
Ideal for applications in environments where large transient spikes occur
Stable operation for all values of capacitive load
No output overshoot

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности