STGB10NC60KDT4 - ST Microelectronics

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

STGB10NC60KDT4
Производитель

ST Microelectronics
Чип воркер Часть №

CW21412961
Категория

Транзистор IGBT
Упаковка

TO-263-3
Описание

IGBT Single Transistor, 10A, 2.5V, 60W, 600V, TO-263, 3Pins
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

STGB10NC60KDT4 Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

STGB10NC60KDT4 Транзистор IGBT характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	STGB10NC60KDT4
Производитель	ST Microelectronics
Чип воркер Часть №	CW21412961
Категория	Транзистор IGBT
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	3 Pin
Корпус/Пакет	TO-263-3
Номинальное Напряжение (DC)	600 V
Номинальный Ток	10.0 A
Количество Стежков	3 Position
Полярность	N-Channel
Рассеяние Мощности	60 W
Входная Ёмкость	380 pF
Заряд Затвора	19.0 nC
Напряжение Сток-исток (Vds)	600 V
Непрерывный Ток Стока (Ids)	10.0 A
Время Нарастания	6.00 ns
Пробивное Напряжение (Коллектор-Эмиттер)	600 V
Тепловое Сопротивление	62.5 ℃/W
Обратное время восстановления	22 ns
Максимальная входная мощность	65 W
Рабочая температура (Макс)	150 ℃
Рабочая температура (мин)	-55 ℃
Рассеиваемая Мощность (Макс)	65 W
	Развернуть все
Длина	10.4 mm
Ширина	9.35 mm
Высота	4.6 mm
Рабочая Температура	-55℃ ~ 150℃ (TJ)
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Tape & Reel (TR)
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Комплаенс	No SVHC
REACH SVHC Compliance Edition	2015/12/17
ECCN кодекс	EAR99

STGB10NC60KDT4 Описание продукта

The STGB10NC60KDT4 is a short-circuit rugged IGBT utilizes the advanced PowerMESH™ process resulting in an excellent trade-off between switching performance and low ON-state behaviour. It is suitable for SMPS and PFC in both hard switch and resonant topologies.
Low on-voltage drop (VCE(sat))
Low CRES/CIES ratio (no cross-conduction susceptibility)
Very soft ultrafast recovery anti-parallel diode
10µs Short-circuit withstand time

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности