SP721APP - Littelfuse

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

SP721APP
Производитель

Littelfuse
Чип воркер Часть №

CW6807011
Категория

Телевизионные диоды
Упаковка

DIP-8
Описание

SP721 Series 3pF Through Hole SCR & Diode Rail Clamp Array - PDIP-8
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

SP721APP Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

SP721APP Телевизионные диоды характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	SP721APP
Производитель	Littelfuse
Чип воркер Часть №	CW6807011
Категория	Телевизионные диоды
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Through Hole
Количество Выводов	8 Pin
Корпус/Пакет	DIP-8
Номинальное Напряжение (DC)	30.0 V
Рабочее Напряжение	30 V
Ёмкость	3 pF
Пробивное Напряжение	30 V
Количество Цепей	6 Circuit
Количество Каналов	6 Channel
Количество Стежков	8 Position
Рабочая температура (Макс)	105 ℃
Рабочая температура (мин)	-40 ℃
Напряжение питания	2V ~ 30V
	Развернуть все
Длина	10.16 mm
Ширина	7.11 mm
Высота	4.95 mm
Жизненный Цикл Продукта	Not Recommended for New Design
Упаковка	Each
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Комплаенс	No SVHC
REACH SVHC Compliance Edition	2014/06/16
ECCN кодекс	EAR99

SP721APP Описание продукта

The SP721 is an array of SCR/Diode bipolar structures for ESD and over-voltage protection to sensitive input circuits. The SP721 has 2 protection SCR/Diode structures per input. There are a total of 6 available inputs that can be used to protect up to 6 external signal or bus lines. Over voltage protection is from the IN (Pins 1-3 and Pins 5-7) to V+ or V-.
The SCR structures are designed for fast triggering at a threshold of one +VBE diode threshold above V+ (Pin 8) or a –VBE diode threshold below V- (Pin 4). From an IN input, a clamp to V+ is activated if a transient pulse causes the input to be increased to a voltage level greater than one VBE above V+. A similar clamp to V- is activated if a negative pulse, one VBE less than V-, is applied to an IN input.

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности