SN75374N - TI

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

SN75374N
Производитель

TI
Чип воркер Часть №

CW51619789
Категория

Драйвер FET
Упаковка

PDIP-16
Описание

TEXAS INSTRUMENTS SN75374N MOSFET Driver IC, Low Side, 4.75V-28V Supply, 500mA Out, 30ns Delay, DIP-16
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

SN75374N Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

SN75374N Драйвер FET характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	SN75374N
Производитель	TI
Чип воркер Часть №	CW51619789
Категория	Драйвер FET
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Through Hole
Количество Выводов	16 Pin
Корпус/Пакет	PDIP-16
Напряжение Питания (DC)	4.75V (min)
Время Нарастания/Спада	20 ns
Количество Выходных Интерфейсов	4 Output
Выходное Напряжение	24 V
Выходной Ток	40 mA
Ток Питания	47 mA
Количество Каналов	4 Channel
Количество Стежков	16 Position
Драйверы/пакет	4
Максимальное входное напряжение	5.5 V
Рабочая температура (Макс)	70 ℃
Рабочая температура (мин)	0 ℃
Напряжение питания	4.75V ~ 28V
Напряжение питания (Макс)	28 V
Напряжение питания (мин)	4.75 V
Входное напряжение	5.5 V
	Развернуть все
Длина	19.69 mm
Ширина	6.6 mm
Высота	4.88 mm
Рабочая Температура	0℃ ~ 150℃ (TJ)
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Tube
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Комплаенс	No SVHC
REACH SVHC Compliance Edition	2015/06/15
ECCN кодекс	EAR99

SN75374N Описание продукта

The SN75374N is a quadruple MOSFET Driver with NAND interface circuit designed to drive power MOSFETs from TTL inputs. It provides the high current and voltage necessary to drive large capacitive loads at high speeds. The outputs can be switched very close to the VCC2 supply rail when VCC3 is about 3V higher than VCC2. VCC3 can also be tied directly to VCC2 when the source voltage requirements are lower.
Quadruple circuits capable of driving high-capacitance loads at high speeds
Low standby power dissipation
VCC3 Supply maximizes output source voltage

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности