SN75117P - TI

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

SN75117P
Производитель

TI
Чип воркер Часть №

CW59968992
Категория

Чип интерфейса
Упаковка

PDIP-8
Описание

Single Transmitter/Receiver 8Pin PDIP Tube
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

SN75117P Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

SN75117P Чип интерфейса характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	SN75117P
Производитель	TI
Чип воркер Часть №	CW59968992
Категория	Чип интерфейса
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Through Hole
Количество Выводов	8 Pin
Корпус/Пакет	PDIP-8
Напряжение Питания (DC)	4.50V (min)
Ток Питания	60 mA
Количество Цепей	1 Circuit
Количество Каналов	1 Channel
Количество Стежков	8 Position
Драйверы/пакет	1
Рабочая температура (Макс)	70 ℃
Рабочая температура (мин)	0 ℃
Напряжение питания	4.5V ~ 5.5V
Напряжение питания (Макс)	5.5 V
Напряжение питания (мин)	4.5 V
	Развернуть все
Длина	9.81 mm
Ширина	6.35 mm
Высота	4.57 mm
Рабочая Температура	0℃ ~ 70℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Tube
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Комплаенс	No SVHC
REACH SVHC Compliance Edition	2015/06/15

SN75117P Описание продукта

These integrated circuits are designed for use in interfacing between TTL-type digital systems and differential data-transmission lines. They are especially useful for party-line (data-bus) applications. Each of these circuit types combine in one package a 3-state differential line driver and a differential-input line receiver, both of which operate from a single 5-V power supply. The driver inputs and the receiver outputs are TTL compatible. The driver employed is similar to the SN55113 and SN75113 3-state line drivers, and the receiver is similar to the SN55115 and SN75115 line receivers.
The SN55116, SN75116, and SN75118 offer all the features of the SN55113 and SN75113 drivers and the SN55115 and SN75115 receivers combined. The driver performs the dual input AND and NAND functions when enabled or presents a high impedance to the load when in the disabled state. The driver output stages are similar to TTL totem-pole outputs, but have the current-sinking portion separated from the current-sourcing portion and both are brought out to adjacent package terminals. This feature allows the user the option of using the driver in the open-collector output configuration, or, by connecting the adjacent source and sink terminals together, of using the driver in the normal totem-pole output configuration.
The receiver portion of the SN55116, SN75116, and SN75118 features a differential-input circuit having a common-mode voltage range of ±15 V. An internal 130- equivalent resistor also is provided, which optionally can be used to terminate the transmission line. A frequency-response control terminal allows the user to reduce the speed of the receiver or to improve differential noise immunity. The receivers of the SN55116 and SN75116 have an output strobe and a split totem-pole output. The receiver of the SN75118 has an output-enable for the 3-state split totem-pole output. The receiver section of either circuit is independent of the driver section except for the VCC and ground terminals.
The SN75117 and SN75119 provide the basic driver and receiver functions of the SN55116, SN75116, and SN75118, but use a package that is only half as large. The SN75117 and SN75119 are intended primarily for party-line or bus-organized systems because the driver outputs are internally connected to the receiver inputs. The driver has a single data input and a single enable input. The SN75117 receiver has an output strobe, while the SN75119 receiver has a 3-state output enable. However, these devices do not provide output connection options, line-termination resistors, or receiver frequency-response controls.
The SN55116 is characterized for operation over the full military temperature range of -55°C to 125°C. The SN75116, SN75117, SN75118, and SN75119 are characterized for operation from 0°C to 70°C.

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности