SN74LVC1G3157DRYR - TI

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

SN74LVC1G3157DRYR
Производитель

TI
Чип воркер Часть №

CW28595300
Категория

Чип интерфейса
Упаковка

SON-6
Описание

TEXAS INSTRUMENTS SN74LVC1G3157DRYR Analog Switch, Single Channel, SPDT, 1Channels, 15Ω, 1.65V to 5.5V, SON, 6Pins
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

SN74LVC1G3157DRYR Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

SN74LVC1G3157DRYR Чип интерфейса характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	SN74LVC1G3157DRYR
Производитель	TI
Чип воркер Часть №	CW28595300
Категория	Чип интерфейса
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	6 Pin
Корпус/Пакет	SON-6
Напряжение Питания (DC)	1.65V ~ 5.50V
Количество Выходных Интерфейсов	2 Output
Тип Контактов	SPDT
Ток Питания	1 µA
Количество Цепей	1 Circuit
Количество Каналов	1 Channel
Количество Битов	1 Bit
Время Задержки Распространения	300 ps
Узлы Напряжения	5.00 V, 3.30 V, 2.50 V, 1.80 V
Ширина Ленты	300 MHz
Количество входов	1 Input
Рабочая температура (Макс)	85 ℃
Рабочая температура (мин)	-40 ℃
Полоса пропускания 3 дБ	340 MHz
Напряжение питания	1.65V ~ 5.5V
	Развернуть все
Длина	1.45 mm
Ширина	1 mm
Высота	0.5 mm
Рабочая Температура	-40℃ ~ 85℃ (TA)
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Tape & Reel (TR)
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Compliance Edition	2015/06/15
Лицензия HK STC	NLR

SN74LVC1G3157DRYR Описание продукта

* 1.65-V to 5.5-V VCC Operation * Useful for Both Analog and Digital Applications * Specified Break-Before-Make Switching * Rail-to-Rail Signal Handling * Operating Frequency Up to 300 MHz * High Degree of Linearity * High Speed, Typically 0.5 ns (VCC = 3 V, CL = 50 pF) * Low ON-State Resistance, Typically ≠6 Ω (VCC = 4.5 V) * Latch-Up Performance Exceeds 100 mA Per JESD 78, Class II * ESD Protection Exceeds JESD 22 * 2000-V Human Body Model (A114-A) * 200-V Machine Model (A115-A) * 1000-V Charged-Device Model (C101)

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности