SN74LVC139APW - TI

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

SN74LVC139APW
Производитель

TI
Чип воркер Часть №

CW29489290
Категория

Логический контроллер
Упаковка

TSSOP-16
Описание

Decoder / Demultiplexer, LVC Family, 4 Output, 24mA, 1.65V to 3.6V, TSSOP-16
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

SN74LVC139APW Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

SN74LVC139APW Логический контроллер характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	SN74LVC139APW
Производитель	TI
Чип воркер Часть №	CW29489290
Категория	Логический контроллер
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	16 Pin
Корпус/Пакет	TSSOP-16
Напряжение Питания (DC)	1.65V ~ 3.60V
Количество Выходных Интерфейсов	4 Output
Выходной Ток	24.0 mA
Количество Стежков	16 Position
Количество Битов	4 Bit
Узлы Напряжения	3.30 V, 2.70 V, 2.50 V, 1.80 V
Ширина Ленты	100 MHz
Привод Выходного Тока	-1.00 mA
Количество входов	2 Input
Рабочая температура (Макс)	85 ℃
Рабочая температура (мин)	-40 ℃
Напряжение питания	1.65V ~ 3.6V
Напряжение питания (Макс)	3.6 V
Напряжение питания (мин)	1.65 V
	Развернуть все
Высота	1.05 mm
Рабочая Температура	-40℃ ~ 85℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Tube
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Комплаенс	No SVHC
REACH SVHC Compliance Edition	2015/06/15
ECCN кодекс	EAR99

SN74LVC139APW Описание продукта

The SN74LVC139APW is a dual 2-to-4 Decoder/Demultiplexer designed for 1.65 to 3.6V VCC operation. The active-low enable (G\\) input can be used as a data line in demultiplexing applications. This decoder/demultiplexer features fully buffered inputs, each of which represents only one normalized load to its driving circuit. Inputs can be driven from either 3.3 or 5V devices. This feature allows the use of this device as a translator in a mixed 3.3/5V system environment.
6.2ns Maximum tpd
Latch-up performance exceeds 250mA per JESD 17
Green product and no Sb/Br

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности