SN74LV1T32DBVR - TI

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

SN74LV1T32DBVR
Производитель

TI
Чип воркер Часть №

CW29944800
Категория

Логический чип
Упаковка

SOT-23-5
Описание

OR Gate 1Element 2IN CMOS 5Pin SOT-23 T/R
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

SN74LV1T32DBVR Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

SN74LV1T32DBVR Логический чип характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	SN74LV1T32DBVR
Производитель	TI
Чип воркер Часть №	CW29944800
Категория	Логический чип
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	5 Pin
Корпус/Пакет	SOT-23-5
Напряжение Питания (DC)	1.60V (min)
Количество Выходных Интерфейсов	1 Output
Выходной Ток	8 mA
Количество Цепей	1 Circuit
Количество Битов	1 Bit
Количество входов	2 Input
Рабочая температура (Макс)	125 ℃
Рабочая температура (мин)	-40 ℃
Напряжение питания	1.6V ~ 5.5V
Напряжение питания (Макс)	5.5 V
Напряжение питания (мин)	1.6 V
	Развернуть все
Рабочая Температура	-40℃ ~ 125℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Tape & Reel (TR)
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Compliance Edition	2015/06/15

SN74LV1T32DBVR Описание продукта

SN74LV1T32 is a low voltage CMOS gate logic that operates at a wider voltage range for industrial, portable, telecom, and automotive applications. The output level is referenced to the supply voltage and is able to support 1.8V/2.5V/3.3V/5V CMOS levels.
The input is designed with a lower threshold circuit to match 1.8V input logic at VCC = 3.3V and can be used in 1.8V to 3.3V level up translation. In addition, the 5V tolerant input pins enable down translation (e.g. 3.3V to 2.5V output at VCC = 2.5V). The wide VCC range of 1.8V to 5.5V allows generation of desired output levels to connect to controllers or processors.
The SN74LV1T32 is designed with current-drive capability of 8 mA to reduce line reflections, overshoot, and undershoot caused by high-drive outputs.

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности