SN74LS279AN - TI

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

SN74LS279AN
Производитель

TI
Чип воркер Часть №

CW2619159
Категория

Логический замок
Упаковка

DIP-16
Описание

TEXAS INSTRUMENTS SN74LS279AN Latch, LS Family, 74LS279, SR, Standard, 12ns, 8mA, DIP
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

SN74LS279AN Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

SN74LS279AN Логический замок характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	SN74LS279AN
Производитель	TI
Чип воркер Часть №	CW2619159
Категория	Логический замок
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Through Hole
Количество Выводов	16 Pin
Корпус/Пакет	DIP-16
Напряжение Питания (DC)	4.75V ~ 5.25V
Количество Выходных Интерфейсов	4 Output
Выходной Ток	8 mA
Количество Цепей	4 Circuit
Количество Каналов	4 Channel
Количество Стежков	16 Position
Количество Битов	4 Bit
Время Задержки Распространения	22.0 ns
Полярность	Non-Inverting
Узлы Напряжения	5.00 V
Ток Покоя	3.80 mA
Привод Выходного Тока	-50.0 µA
Количество входов	10 Input
Рабочая температура (Макс)	70 ℃
Рабочая температура (мин)	0 ℃
Напряжение питания	4.75V ~ 5.25V
Напряжение питания (Макс)	5.25 V
Напряжение питания (мин)	4.75 V
	Развернуть все
Длина	19.3 mm
Ширина	6.35 mm
Высота	4.57 mm
Рабочая Температура	0℃ ~ 70℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Tube
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Комплаенс	No SVHC
REACH SVHC Compliance Edition	2015/06/15
ECCN кодекс	EAR99

SN74LS279AN Описание продукта

The SN74LS279AN is a 4 basic S\\-R\ Flip-flop Latch. Under conventional operation, the S\\-R\ inputs are normally held high. When the S\ input is pulsed low, the Q output will be set high. When R\ is pulsed low, the Q output will be reset low. Normally, the S\\-R\ inputs should not be taken low simultaneously. The Q output will be unpredictable in this condition.
7V Input voltage
2V High-level input voltage
0.8V Low-level input voltage
8mA Low-level output current
20ns Low pulse duration

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности