SN74LS148N - TI

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

SN74LS148N
Производитель

TI
Чип воркер Часть №

CW7004642
Категория

Логический контроллер
Упаковка

DIP-16
Описание

TEXAS INSTRUMENTS SN74LS148N Priority Encoder, LS Family, 5 Output, 8mA, 4.75V to 5.25V, DIP-16
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

SN74LS148N Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

SN74LS148N Логический контроллер характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	SN74LS148N
Производитель	TI
Чип воркер Часть №	CW7004642
Категория	Логический контроллер
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Through Hole
Количество Выводов	16 Pin
Корпус/Пакет	DIP-16
Напряжение Питания (DC)	4.75V (min)
Количество Выходных Интерфейсов	5 Output
Количество Цепей	1 Circuit
Количество Стежков	16 Position
Количество Битов	8 Bit
Рассеяние Мощности	60 mW
Ширина Ленты	35.0 MHz
Выходной ток (Макс)	8 mA
Количество входов	8 Input
Рабочая температура (Макс)	70 ℃
Рабочая температура (мин)	0 ℃
Рассеиваемая Мощность (Макс)	60 mW
Напряжение питания	4.75V ~ 5.25V
Напряжение питания (Макс)	5.25 V
Напряжение питания (мин)	4.75 V
	Развернуть все
Длина	19.3 mm
Ширина	6.35 mm
Высота	4.57 mm
Рабочая Температура	0℃ ~ 70℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Each
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Комплаенс	No SVHC
REACH SVHC Compliance Edition	2015/06/15
ECCN кодекс	EAR99

SN74LS148N Описание продукта

The SN74LS148N is a 8-to-3 Priority Encoder features priority decoding of the inputs to ensure that only the highest-order data line is encoded. The LS147 encode nine data lines to four-line (8-4-2-1) BCD. The implied decimal zero condition requires no input condition as zero is encoded when all nine data lines are at a high logic level. Cascading circuitry (enable input E1 and enable output E0) has been provided to allow octal expansion without the need for external circuitry. For all types, data inputs and outputs are active at the low logic level.

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности