SN74LS107AN - TI

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

SN74LS107AN
Производитель

TI
Чип воркер Часть №

CW10376718
Категория

Бистабильный мультивибратор
Упаковка

DIP-14
Описание

TEXAS INSTRUMENTS SN74LS107AN Flip-Flop, with Clear, Complementary, Positive Edge, 74LS107, JK, 15ns, 30MHz, 8mA, DIP
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

SN74LS107AN Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

SN74LS107AN Бистабильный мультивибратор характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	SN74LS107AN
Производитель	TI
Чип воркер Часть №	CW10376718
Категория	Бистабильный мультивибратор
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Through Hole
Количество Выводов	14 Pin
Корпус/Пакет	DIP-14
Частота	30 MHz
Цифровой Логический Уровень	TTL
Напряжение Питания (DC)	4.75V ~ 5.25V
Количество Выходных Интерфейсов	1 Output
Выходной Ток	8 mA
Ток Питания	100 µA
Количество Цепей	2 Circuit
Количество Каналов	2 Channel
Количество Стежков	14 Position
Тактовая Частота	45 MHz
Количество Битов	2 Bit
Время Задержки Распространения	20.0 ns
Узлы Напряжения	5.00 V
Привод Выходного Тока	-50.0 µA
Количество входов	2 Input
Рабочая температура (Макс)	70 ℃
Рабочая температура (мин)	0 ℃
Напряжение питания	4.75V ~ 5.25V
Напряжение питания (Макс)	5.25 V
Напряжение питания (мин)	4.75 V
	Развернуть все
Длина	19.69 mm
Ширина	6.6 mm
Высота	4.57 mm
Вес	0.0148478936216 kg
Рабочая Температура	0℃ ~ 70℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Tube
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Комплаенс	No SVHC
REACH SVHC Compliance Edition	2015/06/15
ECCN кодекс	EAR99

SN74LS107AN Описание продукта

The SN74LS107AN is a two independent Negative-Edge-Triggered Flip-flop with J and K inputs must be stable prior to the high-to-low clock transition for predictable operation. When the clear is low, it overrides the clock and data inputs forcing the Q output low and the Q\ output high.
7V Input voltage
2V High-level input voltage
0.8V Low-level input voltage

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности