SN74HCT541PW - TI

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

SN74HCT541PW
Производитель

TI
Чип воркер Часть №

CW6009869
Категория

Логический чип
Упаковка

TSSOP-20
Описание

Buffer/Line Driver 8CH Non-Inverting 3-ST CMOS 20Pin TSSOP Tube
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

SN74HCT541PW Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

SN74HCT541PW Логический чип характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	SN74HCT541PW
Производитель	TI
Чип воркер Часть №	CW6009869
Категория	Логический чип
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	20 Pin
Корпус/Пакет	TSSOP-20
Напряжение Питания (DC)	4.50V ~ 5.50V
Количество Выходных Интерфейсов	8 Output
Количество Каналов	8 Channel
Количество Стежков	20 Position
Количество Битов	8 Bit
Время Задержки Распространения	26.0 ns
Узлы Напряжения	5.00 V
Привод Выходного Тока	-1.00 mA
Количество входов	8 Input
Рабочая температура (Макс)	85 ℃
Рабочая температура (мин)	-40 ℃
Напряжение питания	4.5V ~ 5.5V
Напряжение питания (Макс)	5.5 V
Напряжение питания (мин)	4.5 V
	Развернуть все
Длина	6.5 mm
Ширина	4.4 mm
Высота	1.15 mm
Рабочая Температура	-40℃ ~ 85℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Tube
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Комплаенс	No SVHC
ECCN кодекс	EAR99

SN74HCT541PW Описание продукта

description
These octal buffers and line drivers are designed to have the performance of the popular ’HC240 series devices and to offer a pinout with inputs and outputs on opposite sides of the package. This arrangement greatly facilitates printed circuit board layout.
Operating Voltage Range of 4.5 V to 5.5 V
High-Current 3-State Outputs Interface Directly With System Bus or Can Drive Up To 15 LSTTL Loads
Low Power Consumption, 80-µA Max ICC
Typical tpd = 12 ns
±6-mA Output Drive at 5 V
Low Input Current of 1 µA Max
Inputs Are TTL-Voltage Compatible
Data Flow-Through Pinout (All Inputs on Opposite Side From Outputs)

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности