SN74HC165PWRG4 - TI

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

SN74HC165PWRG4
Производитель

TI
Чип воркер Часть №

CW13950450
Категория

Счётчик
Упаковка

TSSOP-16
Описание

8Bit Parallel-Load Shift Registers 16-TSSOP -40℃ to 125℃
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

SN74HC165PWRG4 Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

SN74HC165PWRG4 Счётчик характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	SN74HC165PWRG4
Производитель	TI
Чип воркер Часть №	CW13950450
Категория	Счётчик
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	16 Pin
Корпус/Пакет	TSSOP-16
Напряжение Питания (DC)	2.00V ~ 6.00V
Количество Выходных Интерфейсов	1 Output
Количество Битов	8 Bit
Время Задержки Распространения	30.0 ns
Узлы Напряжения	6.00 V, 5.00 V, 2.00 V
Привод Выходного Тока	-1.00 mA
Количество входов	9 Input
Рабочая температура (Макс)	85 ℃
Рабочая температура (мин)	-40 ℃
Напряжение питания	2V ~ 6V
Напряжение питания (Макс)	6 V
Напряжение питания (мин)	2 V
	Развернуть все
Рабочая Температура	-40℃ ~ 125℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Tape & Reel (TR)
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Compliance Edition	2015/06/15
ECCN кодекс	EAR99

SN74HC165PWRG4 Описание продукта

description/ordering information
The ’HC165 devices are 8-bit parallel-load shift registers that, when clocked, shift the data toward a serial (QH) output. Parallel-in access to each stage is provided by eight individual direct data (A−H) inputs that are enabled by a low level at the shift/load (SH/LD) input. The ’HC165 devices also feature a clock-inhibit (CLK INH) function and a complementary serial (QH) output.
Wide Operating Voltage Range of 2 V to 6 V
Outputs Can Drive Up To 10 LSTTL Loads
Low Power Consumption, 80-µA Max ICC
Typical tpd = 13 ns
±4-mA Output Drive at 5 V
Low Input Current of 1 µA Max
Complementary Outputs
Direct Overriding Load (Data) Inputs
Gated Clock Inputs
Parallel-to-Serial Data Conversion

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности