SN74HC165 - TI

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

SN74HC165
Производитель

TI
Чип воркер Часть №

CW486742238
Упаковка

SO-16
Описание

8Bit Parallel-Load Shift Registers
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

SN74HC165 Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

SN74HC165 характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	SN74HC165
Производитель	TI
Чип воркер Часть №	CW486742238
даташит	Datasheet
Корпус/Пакет	SO-16
	Развернуть все
Жизненный Цикл Продукта
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free

SN74HC165 Описание продукта

The SNx4HC165 devices are 8-bit parallel-load shift registers that, when clocked, shift the data toward a serial (QH) output. Parallel-in access to each stage is provided by eight individual direct data (A–H) inputs that are enabled by a low level at the shift/load (SH/LD) input. The SNx4HC165 devices also feature a clock-inhibit (CLK INH) function and a complementary serial (QH) output.
Clocking is accomplished by a low-to-high transition of the clock (CLK) input while SH/LD is held high and CLK INH is held low. The functions of CLK and CLK INH are interchangeable. Because a low CLK and a low-to-high transition of CLK INH also accomplish clocking, CLK INH must be changed to the high level only while CLK is high. Parallel loading is inhibited when SH/LD is held high. While SH/LD is low, the parallel inputs to the register are enabled independently of the levels of the CLK, CLK INH, or serial (SER) inputs.
Wide Operating Voltage Range of 2 V to 6 V
Outputs Can Drive Up to 10 LSTTL Loads
Low Power Consumption, 80-µA Maximum ICC
Typical tpd = 13 ns
±4-mA Output Drive at 5 V
Low Input Current of 1 µA Maximum
Complementary Outputs
Direct Overriding Load (Data) Inputs
Gated Clock Inputs
Parallel-to-Serial Data Conversion
On Products Compliant to MIL-PRF-38535,
All Parameters Are Tested Unless Otherwise
Noted. On All Other Products, Production
Processing Does Not Necessarily Include Testing
of All Parameters.

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности