SN74CBT16233DGVR - TI

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

SN74CBT16233DGVR
Производитель

TI
Чип воркер Часть №

CW18379351
Категория

Логический контроллер
Упаковка

TVSOP-56
Описание

Multiplexer/Demultiplexer Bus Switch 2Element CMOS 32IN 56Pin TVSOP T/R
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

SN74CBT16233DGVR Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

SN74CBT16233DGVR Логический контроллер характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	SN74CBT16233DGVR
Производитель	TI
Чип воркер Часть №	CW18379351
Категория	Логический контроллер
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	56 Pin
Корпус/Пакет	TVSOP-56
Напряжение Питания (DC)	4.75V ~ 5.25V
Количество Выходных Интерфейсов	16 Output
Количество Каналов	16 Channel
Количество Битов	32 Bit
Время Задержки Распространения	250 ps
Полярность	Non-Inverting
Узлы Напряжения	5.00 V
Ширина Ленты	200 MHz
Количество входов	32 Input
Рабочая температура (Макс)	85 ℃
Рабочая температура (мин)	-40 ℃
Напряжение питания	4.75V ~ 5.25V
	Развернуть все
Рабочая Температура	-40℃ ~ 85℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Tape & Reel (TR)
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
ECCN кодекс	EAR99

SN74CBT16233DGVR Описание продукта

The SN74CBT16233 is a 16-bit 1-of-2 FET multiplexer/demultiplexer used in applications in which two separate data paths must be multiplexed onto, or demultiplexed from, a single path. This device can be used for memory interleaving, where two different banks of memory need to be addressed simultaneously. The device can be used as two 8-bit to 16-bit multiplexers or as one 16-bit to 32-bit multiplexer.
Two select (SEL1 and SEL2) inputs control the data flow. When the TEST inputs are asserted, the A port is connected to both the B1 and the B2 ports. SEL1, SEL2, and the TEST inputs can be driven with a 5-V CMOS, a 5-V TTL, or a low-voltage TTL driver.
This device is designed so it does not have through current when switching directions.

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности