SN74AHCT595PW - TI

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

SN74AHCT595PW
Производитель

TI
Чип воркер Часть №

CW25202614
Категория

Регистр сдвига
Упаковка

TSSOP-16
Описание

8Bit Shift Registers With 3-State Output Registers 16-TSSOP -40℃ to 85℃
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

SN74AHCT595PW Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

SN74AHCT595PW Регистр сдвига характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	SN74AHCT595PW
Производитель	TI
Чип воркер Часть №	CW25202614
Категория	Регистр сдвига
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	16 Pin
Корпус/Пакет	TSSOP-16
Частота	170 MHz
Напряжение Питания (DC)	4.50V (min)
Количество Выходных Интерфейсов	9 Output
Количество Стежков	16 Position
Количество Битов	8 Bit
Узлы Напряжения	5.00 V
Количество входов	1 Input
Рабочая температура (Макс)	85 ℃
Рабочая температура (мин)	-40 ℃
Напряжение питания	4.5V ~ 5.5V
Напряжение питания (Макс)	5.5 V
Напряжение питания (мин)	4.5 V
	Развернуть все
Длина	5 mm
Ширина	4.4 mm
Высота	1.15 mm
Рабочая Температура	-40℃ ~ 85℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Each
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Комплаенс	No SVHC
REACH SVHC Compliance Edition	2015/06/15
ECCN кодекс	EAR99

SN74AHCT595PW Описание продукта

Description
The SNx4AHCT595 devices contain an 8-bit serial-in, parallel-out shift register that feeds an 8-bit D-type storage register. Both the shift register clock (SRCLK) and storage register clock (RCLK) are positive-edge triggered.
Features
• Inputs are TTL-Voltage Compatible
• 8-Bit Serial-In, Parallel-Out Shift
• Shift Register Has Direct Clear
• Latch-Up Performance Exceeds 100 mA Per JESD 78, Class II
• ESD Protection Exceeds JESD 22
– 2000-V Human-Body Model (A114-A)
– 200-V Machine Model (A115-A)
– 1000-V Charged-Device Model (C101)
Applications
• Network Switches
• Power Infrastructures
• PCs ans Notebooks
• LED Displays
• Servers

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности