SN74ACT8990FN - TI

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

SN74ACT8990FN
Производитель

TI
Чип воркер Часть №

CW54563896
Категория

Логический чип
Упаковка

PLCC-44
Описание

Test-Bus Controllers IEEE Std 1149.1 (JTAG) TAP Masters With 16Bit Generic Host Interfaces 44-PLCC -40℃ to 85℃
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

SN74ACT8990FN Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

SN74ACT8990FN Логический чип характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	SN74ACT8990FN
Производитель	TI
Чип воркер Часть №	CW54563896
Категория	Логический чип
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	44 Pin
Корпус/Пакет	PLCC-44
Напряжение Питания (DC)	4.50V ~ 5.50V
Выходной Ток	8.00 mA
Количество Битов	16 Bit
Узлы Напряжения	5.00 V
Рабочая температура (Макс)	85 ℃
Рабочая температура (мин)	-40 ℃
Напряжение питания	4.5V ~ 5.5V
	Развернуть все
Рабочая Температура	0℃ ~ 70℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Tube
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
ECCN кодекс	EAR99

SN74ACT8990FN Описание продукта

The "ACT8990 test-bus controllers (TBC) are members of the Texas Instruments SCOPETM testability integrated-circuit family. This family of components supports IEEE Standard 1149.1-1990 (JTAG) boundary scan to facilitate testing of complex circuit-board assemblies. The "ACT8990 differ from other SCOPETM integrated circuits. Their function is to control the JTAG serial-test bus rather than being target boundary-scannable devices.
The required signals of the JTAG serial-test bus - test clock (TCK), test mode select (TMS), test data input (TDI), and test data output (TDO) can be connected from the TBC to a target device without additional logic. This is done as a chain of IEEE Standard 1149.1-1990 boundary-scannable components that share the same serial-test bus. The TBC generates TMS and TDI signals for its target(s), receives TDO signals from its target(s), and buffers its test clock input (TCKI) to a test clock output (TCKO) for distribution to its target(s). The TMS, TDI, and TDO signals can be connected to a target directly or via a pipeline, with a retiming delay of up to 31 bits. Since the TBC can be configured to generate up to six separate TMS signals [TMS (5-0)], it can be used to control up to six target scan paths that are connected in parallel (i.e., sharing common TCK, TDI, and TDO signals).
While most operations of the TBC are synchronous to TCKI, a test-off (TOFF\\\\) input is provided for output control of the target interface, and a test-reset (TRST\\\\) input is provided for hardware/software reset of the TBC. In addition, four event [EVENT (3-0)] I/Os are provided for asynchronous communication to target device(s). Each event has its own event generation/detection logic, and detected events can be counted by two 16-bit counters.
The TBC operates under the control of a host microprocessor/microcontroller via the 5-bit address bus [ADRS (4-0)] and the 16-bit read/write data bus [DATA (15-0)]. Read (RD\\\\) and write (WR\\\\) strobes are implemented such that the critical host-interface timing is independent of the TCKI period. Any one of 24 registers can be addressed for read and/or write operations. In addition to control and status registers, the TBC contains two command registers, a read buffer, and a write buffer. Status of the TBC is transmitted to the host via ready (RDY\\\\) and interrupt (INT\\\\) outputs.
Major commands can be issued by the host to cause the TBC to generate the TMS sequences necessary to move the target(s) from any stable test-access-port (TAP) controller state to any other stable TAP state, to execute instructions in the Run-Test/Idle TAP state, or to scan instruction or test data through the target(s). A 32-bit counter can be preset to allow a predetermined number of execution or scan operations.
Serial data that appears at the selected TDI input (TDI1 or TDI0) is transferred into the read buffer, which can be read by the host to obtain up to 16 bits of the serial-data stream. Serial data that is transmitted from the TDO output is written by the host to the write buffer.
The SN54ACT8990 is characterized for operation over the full military temperature range of -55°C to 125°C. The SN74ACT8990 is characterized for operation from 0°C to 70°C.
NC - No internal connection

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности