REF5045AQDRQ1 - TI

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

REF5045AQDRQ1
Производитель

TI
Чип воркер Часть №

CW133349762
Категория

Опорный чип напряжения
Упаковка

SOIC-8
Описание

Automotive Low Noise, Very Low Drift, Precision 4.5V Series Voltage Reference 8-SOIC -40℃ to 125℃
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

REF5045AQDRQ1 Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

REF5045AQDRQ1 Опорный чип напряжения характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	REF5045AQDRQ1
Производитель	TI
Чип воркер Часть №	CW133349762
Категория	Опорный чип напряжения
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	8 Pin
Корпус/Пакет	SOIC-8
Допустимое Отклонение Ёмкости	±0.1 %
Выходное Напряжение	4.5 V
Выходной Ток	10 mA
Ток Питания	1.2 mA
Количество Каналов	1 Channel
Ток Покоя	800 µA
Максимальное входное напряжение	18 V
Выходное напряжение (мин)	4.5 V
Выходной ток (Макс)	10 mA
Рабочая температура (Макс)	125 ℃
Рабочая температура (мин)	-40 ℃
точность	0.05 %
Входное напряжение	4.7V ~ 18V
	Развернуть все
Рабочая Температура	-40℃ ~ 125℃
Коэффициент Температуры	±8 ppm/℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Tape & Reel (TR)
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free

REF5045AQDRQ1 Описание продукта

Description
The REF50xxA-Q1 family of devices is low-noise, low-drift, very-high precision-voltage reference. These reference devices are capable of both sinking and sourcing, and are very robust with regard to line and load changes.
Features
• Qualified for Automotive Applications
• Low Temperature Drift
– Standard Grade: 8 ppm/°C (max)
• High Accuracy
– Standard Grade: 0.1% (max)
• Low Noise: 3 μVPP/V
• Excellent Long-Term Stability:
– 5 ppm/1000 hr (typ) after 1000 hours
• High Output Current: ±10 mA
• Temperature Range: –40°C to 125°C
Applications
• 16-Bit Data Acquisition Systems
• ATE Equipment
• Industrial Process Control
• Medical Instrumentation
• Optical Control Systems
• Precision Instrumentation

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности