REF191ESZ - ADI

Изображения приведены только для примера, точные характеристики можно узнать из паспорта изделия.

Часть №

REF191ESZ
Производитель

ADI
Чип воркер Часть №

CW146204
Категория

Опорный чип напряжения
Упаковка

SOIC-8
Описание

Analog Devices REF191ESZ, Fixed Series Voltage Reference 2.048V, 0.1% 18V max., 8Pin SOIC
даташит

Datasheet

Способ оплаты и доставка

REF191ESZ Глобальный поставщик

{{ supplierTable.supplier }}	{{ supplierTable.part }}	{{ supplierTable.availability }}	MOQ	{{ supplierTable.delivery_date }}

{{viewMore}}
{{viewMore}}
DigiKey	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Arrow	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
Mouser	{{noList.partNo}} {{noList.mfr}}	0 {{ search_item }}	-	{{outStock}}
					{{submitRFQ}}

REF191ESZ Опорный чип напряжения характеристики

Атрибут	Значение атрибута

Часть №	REF191ESZ
Производитель	ADI
Чип воркер Часть №	CW146204
Категория	Опорный чип напряжения
даташит	Datasheet
Стиль Монтажа	Surface Mount
Количество Выводов	8 Pin
Корпус/Пакет	SOIC-8
Номинальный Ток	45.0 µA
Входное Напряжение (DC)	3.00V ~ 15.0V
Выходное Напряжение	2.048 V
Выходной Ток	30 mA
Ток Питания	45 µA
Количество Каналов	1 Channel
Количество Стежков	8 Position
Максимальное входное напряжение	18 V
Выходное напряжение (Макс)	2.05 V
Выходное напряжение (мин)	2.048 V
Выходной ток (Макс)	30 mA
Рабочая температура (Макс)	85 ℃
Рабочая температура (мин)	-40 ℃
точность	±2 mV
Входное напряжение	3V ~ 15V
	Развернуть все
Длина	5 mm
Ширина	4 mm
Высота	1.5 mm
Рабочая Температура	-40℃ ~ 85℃ (TA)
Коэффициент Температуры	±5 ppm/℃
Жизненный Цикл Продукта	Active
Упаковка	Tube
RoHS Комплаенс	RoHS Compliant
Бессвинцовая Статус	Lead Free
REACH SVHC Комплаенс	No SVHC
REACH SVHC Compliance Edition	2015/12/17
ECCN кодекс	EAR99

REF191ESZ Описание продукта

GENERAL DESCRIPTION
The REF19x series precision band gap voltage references use a patented temperature drift curvature correction circuit and laser trimming of highly stable, thin-film resistors to achieve a very low temperature coefficient and high initial accuracy.
FEATURES
Initial accuracy: ±2 mV maximum
Temperature coefficient: 5 ppm/°C maximum
Low supply current: 45 μA maximum
Sleep mode: 15 μA maximum
Low dropout voltage
Load regulation: 4 ppm/mA
Line regulation: 4 ppm/V
High output current: 30 mA
Short-circuit protection

Развернуть все

Доставка

CDEK

Itella

SHIPTOR

SPSR-EXPRESS

Чип воркер Квалификация

Информация для заказа

Заказ Оплата Доставка Пакет Обеспечение качества

Данные условия носят справочный характер, фактические условия зависят от предложения продавца.
- Пожалуйста, уточняйте технические характеристики продукции при заказе.
- MOQ - минимальное количество заказа, необходимое для приобретения каждой детали.
- Если у вас есть особые инструкции по заказу, пожалуйста, укажите их на странице заказа.
- При заказе будет использоваться предотгрузочная инспекция.
- Вы можете проверить статус заказа в разделе «Мои заказы» вашего личного кабинета.
- Заказы не могут быть отменены после того, как посылка была отправлена. Узнать больше >
- работает как с физическими так и с юридическими лицами. Узнать больше >
- Все цены на сайте указаны с НДС 20%.
- Счета выставляются в валюте, оплата производится в рублях по курсу на день оплаты.
- Если вам нужен подробный счет-фактура или налоговый идентификатор, пожалуйста, напишите нам.
- После отправки товара в Россию доставка займет от 1 до 2 недель.
- Обработка Вашего заказа осуществляется только после оплаты счета.
- Номер для отслеживания будет выслан после отправки заказа. (Для отображения информации перевозчиком может потребоваться до 24 часов). Узнать больше >
- Тщательно проверено и упаковано компанией Чип воркер
- Вакуумная упаковка
- Антистатическая упаковка
- Антивибрационный пенопласт
- Контроль качества доходов, 800+ квалифицированных дистибьюторов.
- Авторитеты проверяют микросхему, чтобы гарантировать качество, подлинность и безопасность вашего устройства.
- Контроль декапсуляции
- Рентгеновский контроль
- XRF-инспекция
- Электрические испытания
- Тестирование поверхности